Talos F200X 材料科學(xué)應(yīng)用

速度的200 kV FEG STEM，實(shí)現(xiàn)多維度化學(xué)分析

FEI Talos F200X 掃描/透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能與行業(yè)的能量色散 X 射線光譜儀 (EDS) 信號檢測功能及基于成分測繪的三維化學(xué)表征功能。Talos F200X 可在所有維度 (1D-4D) 下實(shí)現(xiàn)速、確的 EDS 分析，以及且支持快速導(dǎo)航的動(dòng)態(tài)顯微鏡 HRTEM 成像。與此同時(shí)，F(xiàn)EI Talos F200X 還提供的穩(wěn)定性和最長的正常運(yùn)行時(shí)間。

的 STEM 成像分辨率和通量

FEI Talos F200X STEM 可以實(shí)現(xiàn)速、最準(zhǔn)確且量化的多維納米材料表征。FEI Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適于學(xué)院、政府和工業(yè)研究環(huán)境中的高級研究與分析。

特色配件

NanoEx-i/v TEM 夾持器

FEI 的全新樣品加熱和偏置夾持器將擴(kuò)展您的顯微鏡的功能。對于各種應(yīng)用領(lǐng)域內(nèi)需要原位 加熱納米材料的精密實(shí)驗(yàn)（例如對納米量級退火行為、金屬相變、催化劑納米系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)改變與燒結(jié)現(xiàn)象、淬火、偏析/擴(kuò)散現(xiàn)象等的研究），NanoEx-i/v 是理想的解決方案。