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FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用

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更新時間:2023-08-02 09:34:20瀏覽次數(shù):228

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產(chǎn)品簡介

FEI 掃描電子顯微鏡 Quanta SEM 材料科學應用

詳細介紹

Quanta SEM 材料科學應用

一種高級、靈活且經(jīng)過驗證的適用于多種材料表征的平臺

Quanta 旨在增加您實驗室的可發(fā)表成果。Quanta 標準環(huán)境 SEM (ESEM) 功能可以提供額外的能力,用于處理您之前認為電子顯微技術無法處理的樣品和應用,同時協(xié)助預測長期的材料性能。Quanta 的 ESEM 支持原位、動態(tài)實驗,可以使很多材料研究成為可能:

  • 對水化物樣品成像。
  • 潮濕或熱循環(huán)期間的結(jié)晶或相變。
  • 懸浮或自組裝過程中的粒子。
  • 金屬腐蝕。
  • 拉伸試驗(根據(jù)需要加熱或冷卻)。


有利于動態(tài)原位 實驗的多功能性

Quanta 自身的多功能性使之非常適合用于材料科學。它善于執(zhí)行傳統(tǒng)高分辨率 SEM 成像/分析,在動態(tài)原位 實驗方面同樣游刃有余。Quanta 可以讓您研究自然狀態(tài)下的廣泛樣品,從而獲得最準確的結(jié)構(gòu)和組成信息:

  • 氧化/腐蝕樣品
  • 陶瓷材料、復合材料、塑料
  • 薄膜和涂層
  • 軟材料:聚合物、藥物、凝膠
  • 顆粒物、多孔材料、纖維


一系列多功能、高性能儀器

Quanta 系列包括:

  • Quanta 250 和 Quanta 250 FEG
  • Quanta 450 和 Quanta 450 FEG
  • Quanta 650 和 Quanta 650 FEG 

Quanta 掃描電子顯微鏡具有三種模式(高真空、低真空和 ESEM),能夠處理的樣品類型堪稱 SEM 系統(tǒng)。所有 Quanta SEM 系統(tǒng)均可配備分析系統(tǒng),比如能量色散譜儀、X 射線波長色散譜儀以及電子背散射衍射系統(tǒng)。此外,場發(fā)射電子槍 (FEG) 系統(tǒng)含有一個用于明場和暗場樣品成像的 S/TEM 檢測器。SEM 系統(tǒng)中的另一個可變配置是電動載物臺的尺寸(Quanta 250 為 50 mm、Quanta 450 為 100 mm、Quanta 650 為 150 mm)以及電動 Z 軸行程的大?。ǚ謩e為 25 mm、60 mm 和 65 mm)。Quanta 650 和 650 FEG 都設計了大標本室,能夠分析和瀏覽大型標本。




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