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UV-313/340型紫外輻照計

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  • UV-313/340型紫外輻照計

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  • 型號 UV-313/340型
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 北京市

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更新時間:2024-03-24 12:26:27瀏覽次數(shù):105

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產(chǎn)品簡介

UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

詳細介紹

詳情介紹

UV-313/340型紫外輻照計采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計,探測器經(jīng)過嚴格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強。該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測量工作。

UV-313/340型紫外輻照計特點:

        * 光譜及角度特性經(jīng)嚴格校正

        * 數(shù)字液晶顯示,帶背光

        * 手動/自動量程切換

        * 數(shù)字輸出接口(USB冗余供電)

        * 低電量提醒

        * 自動延時關(guān)機

        * 有數(shù)字保持

        * 輕觸按鍵操作,蜂鳴提示

UV-313/340技術(shù)指標:  

探頭(二選其一):

UV-313探頭

 UV-340探頭

波長范圍及峰值波長:λ:(290~340)nm;λP=313nmλ:(315~370)nm;λP=340nm
紫外帶外區(qū)雜光:UV313:小于0.05%UV340:小于0.05%
輻照度測量范圍:

(0.1~199.9×103) μW/cm2

相對示值誤差:

±10%(相對與NIM標準)

角度響應(yīng)特性:

±5%(α ≤10°)

線性誤差:

±1%

短期不穩(wěn)定性:

±1%(開機30min后)

響應(yīng)時間:

1秒

使用環(huán)境:

溫度(0~40)℃,濕度<85%RH

尺寸和重量:

160mm×78mm×43mm;0.2kg

電源:

常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只
亦可使用數(shù)據(jù)線連接USB接口、5V電源適配器供電
整機功耗   <0.1VA

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