高低溫沖擊試驗箱（3箱）

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱儀器設(shè)備用途：

高低溫沖擊試驗箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在最短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對象包括汽車電子/部件、LED/LCD/PDP顯示照明、電子電工、儀器儀表、新能源/電子元件/電器、塑膠/橡膠/薄膜、科研/質(zhì)檢/院校/醫(yī)療器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行業(yè)領(lǐng)域等材料，可作為其產(chǎn)品品質(zhì)驗證或改進(jìn)的依據(jù)和參考。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱構(gòu)造概述：

高低溫沖擊試驗箱/冷熱高溫低溫試驗室，因為冷熱沖擊試驗箱也是高低溫沖擊試驗箱，所以三槽冷熱沖擊試驗箱也是三槽高低溫沖擊試驗箱。主要結(jié)構(gòu)是由三個槽（高溫槽、低溫槽、產(chǎn)品槽）組成，高溫槽即是生產(chǎn)及儲存高溫，低溫槽即是生產(chǎn)及儲存低溫，產(chǎn)品槽則是提供給顧客擺放產(chǎn)品的空間容積。沖擊原理是采用氣體驅(qū)逐高、低溫槽的冷熱溫到擺放產(chǎn)品槽的空間內(nèi)完成試驗。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱適用于標(biāo)準(zhǔn):

1：GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；

2：GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第3部分 高溫試驗；

6：GJB/T 150.4-2009設(shè)備環(huán)境試驗方法 第4部分 低溫試驗；:

7：GJB/T 150.5-86 設(shè)備環(huán)境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

8：GJB150.5- 86溫度沖擊試驗;

9：GJB360.7-87溫度沖擊試驗;

10：GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗;

11：GB11158-2008高溫試驗箱技術(shù)條件

12：GB10589-2008低溫試驗箱技術(shù)條件

TG-61321C高低溫沖擊試驗箱產(chǎn)品特點：

1： 泰規(guī)儀器生產(chǎn)的新一代高低溫沖擊試驗箱（3箱），箱體結(jié)構(gòu)、制冷系統(tǒng)、控制技術(shù)均有較大的技術(shù)改革，運行更可靠，維護(hù)更方便。

2：制冷機(jī)采用原裝進(jìn)口“泰康"或“ 比澤爾"。

3：控制系統(tǒng)采用彩色觸摸屏中英文顯示按鍵式操作，外觀更加簡單大方，操作設(shè)定簡單。

4：高低溫沖擊試驗箱根據(jù)待測試樣的特殊性，分為兩箱式幼態(tài)沖擊和三箱式靜態(tài)沖擊。本產(chǎn)品既可作冷熱沖擊實驗，也可以做單獨高溫或單獨低溫使用。

5：測試樣品一直處于靜止?fàn)顟B(tài)，減少對樣品的機(jī)械沖擊，其溫度轉(zhuǎn)換通過氣動系統(tǒng)打開（關(guān)閉）不同風(fēng)門來實現(xiàn)，有測試孔，可帶電，帶信號，帶氣源測試。可實現(xiàn)5℃/min-30℃/min可調(diào)。

6：高低溫沖擊試驗箱配備: SD卡儲存，USB輸出，電腦連接打印，大艙有紙無紙記錄等選配。

7：箱體加工采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡便。殼體采用優(yōu)質(zhì)碳素鋼板.磷化靜電噴塑處理或（選配）SUS304不銹鋼霧面線條發(fā)紋處理，內(nèi)部材質(zhì)均采用SU304高級不銹鋼材質(zhì)。

8：高低溫沖擊試驗箱配備大型觀測視窗附國際品牌照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時清晰的觀測箱內(nèi)狀況。

TG-61321D高低溫沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)：