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德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

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更新時(shí)間:2024-02-20 14:53:08瀏覽次數(shù):168

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德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀型號(hào):QNIX4200P 分體涂層測(cè)厚儀: 基體:Fe磁性基體,測(cè)量范圍:0-3000微米,探頭:分體探頭

詳細(xì)介紹

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀

型號(hào):QNIX4200P

分體涂層測(cè)厚儀: 基體:Fe磁性基體,測(cè)量范圍:0-3000微米,探頭:分體探頭

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛(ài)。

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀分體化設(shè)計(jì),只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn),使用極其簡(jiǎn)單。

QNix4200P為磁性測(cè)厚儀,可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層。操作簡(jiǎn)單,攜帶方便,精度高,為廣大用戶所喜愛(ài)。

在傳統(tǒng)QNix4200基礎(chǔ)上,為了滿足客戶不同的需要,特推出QNix4200P(分體式)機(jī),探頭和主機(jī)之間通過(guò)一根探頭線連接起來(lái),可以滿足特定測(cè)量環(huán)境(比如狹小空間)的需要,測(cè)量更方便,使用更人性化,性價(jià)比更高

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):

分體化設(shè)計(jì),滿足不同環(huán)境的測(cè)量

只需調(diào)零,無(wú)需校準(zhǔn)

體積小巧,操作方便

精度高

價(jià)格便宜

德國(guó)尼克斯分體涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

QNIX4200P涂層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

磁性基體(Fe模式)

QNix4200P有此功能

測(cè)量范圍

Fe:0-3000um

顯示精度

0.1um

精度

0-50um:≤±1um

50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)

1000-3000um≤±3%讀數(shù)

小接觸面

10×10mm

小曲率半徑

凸面:3mm

凹面:25mm

小基體厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

溫度補(bǔ)償范圍

0-60℃

顯示

LCD液晶(帶背光)

探頭

紅寶石固定式

電源

2×1.5V干電池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

QNix® 4200P SONDEN

Sonde

Messbereich

Substrat

Abweichung

QNix® 4200 3 mm

3000 µm

Fe

+/- (3% +- 2 µm)

QNix® 4200 5 mm

5000 µm

Fe

0 – 1999 µm: +/- (3% +- 2 µm)
?2000 – 5000 µm: +/- (5% +- 2 µm)

Kleinste Messfläche

Kleinster Krümmungsradius

Kleinste Dicke des Substrats

25 mm

Konvex: 5 mm
?Konkav: 5 mm

200 µm

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