詳細介紹
使用UIS2無限遠校正光學(xué)系統(tǒng)和的光學(xué)設(shè)計組合的奧林巴斯BX53-P偏光顯微鏡在偏光應(yīng)用時提供了的性能??蓴U展的補償器使BX53-P有足夠多的功能來處理任何相關(guān)領(lǐng)域中的觀察和測量應(yīng)用。
UIS2光學(xué)元件提供了出色的可擴展性
奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P無限遠校正的優(yōu)勢UIS2光學(xué)系統(tǒng)防止了光學(xué)顯微鏡性能的降低,消除了對顯微鏡光學(xué)放大倍數(shù)的影響,即使在光路中插入偏光元件,比如起偏振片、色板或補償器。在保持高水平系統(tǒng)靈活性的同時,BX53-P也兼容BX3系列系統(tǒng)顯微鏡的中間附件,以及相機和成像系統(tǒng)。(來源:成貫儀器)
石英閃長巖中斜長石的帶狀結(jié)構(gòu)
石英閃長巖中斜長石的帶狀結(jié)構(gòu)。*標尺顯示樣本的實際大小
MBBA光學(xué)結(jié)構(gòu)
MBBA光學(xué)結(jié)構(gòu)*標尺顯示標本的實際大小
偏光特性的升級
ACHN-P和UPLFLN-P物鏡中使用的精巧設(shè)計和生產(chǎn)技術(shù)與顯微鏡無縫結(jié)合。BX53-P偏光顯微鏡在起偏振片和檢偏振片里配備了高EF值濾色片,提供了的圖像對比度。為滿足研究和應(yīng)用的多樣化要求,型UPLFLN-P系列物鏡采用了適用于多種觀察方法的設(shè)計,包括NomarskiDIC和熒光顯微鏡觀察以及偏光觀察。(來源:成貫儀器)
*EF(衰減系數(shù))是平行和交叉偏光濾色片之間的亮度比。EF值越高,消光效果就越好。
種類多樣的補償器
奧林巴斯BX53-P顯微鏡可以使用6種不同的補償器,能夠測量多種水平延遲,范圍從0到20λ。為使測量更容易,還提供了直接讀數(shù)法。使用Senarmont*或Brace-Koehler補償器可以獲得更高的圖像對比度,以改變整個視野里的延遲水平。
*與綠色濾色片IF546或IF550。
種類多樣的補償器
正交鏡和錐光鏡成像中的銳利圖像
使用U-CPA錐光鏡觀察附件后,正交偏光和錐光鏡觀察之間的切換簡單而快捷。錐光鏡成像的聚焦輕松而準確。勃氏透鏡視場光闌的使用使其可以持續(xù)獲取銳利而清晰的錐光圖像。
正交鏡和錐光鏡成像中的銳利圖像
1.U-CPA,2.U-P4RE,3.U-AN360P-2,4.U-OPA,5.U-POC-2
堅固而精確的旋轉(zhuǎn)載物臺
奧林巴斯偏光顯微鏡BX53-P旋轉(zhuǎn)載物臺安裝的旋轉(zhuǎn)對中裝置能夠順暢地旋轉(zhuǎn)標本。此外,為了實施精確測量,每隔45度就有一個咔噠停止裝置。如果增加了雙機械載物臺,還可以進一步完成X-Y的微小移動。
旋轉(zhuǎn)載物臺
旋轉(zhuǎn)載物臺
雙層機械載物臺
雙層機械載物臺