3321 型空氣動力學(xué)粒徑譜儀

產(chǎn)品描述

3321 空氣動力學(xué)粒徑譜儀（APS™）提供0.5至20微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實時空氣動力學(xué)檢測。這些粒徑分析儀還檢測0.37 至20微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士提供了途徑。

APS粒徑譜儀使用雙峰光學(xué)系統(tǒng)，具有的粒徑檢測精度。它還包括新設(shè)計的噴嘴結(jié)構(gòu)和改進(jìn)的信號處理。因此，它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質(zhì)量分布精確度并有效消除錯誤背景計數(shù)。

空氣動力學(xué)粒徑：APS 3321通過精密的飛行時間（TOF）技術(shù)可以實時測量粒子的空氣動力學(xué)粒徑，其粒徑測量范圍達(dá)到0.5-20μm。由于基于飛行時間的空氣動力學(xué)粒徑計數(shù)僅僅與粒形狀相關(guān)，從而避免了折射系數(shù)和米散射的干擾，因此儀器對粒徑的測量性能優(yōu)于同類的光學(xué)散射儀器。此外，飛行時間測量粒徑所具有的單調(diào)對應(yīng)曲線確保了在整個粒徑測量范圍內(nèi)的高分辨率。

光學(xué)散射強(qiáng)度：通過光學(xué)散射測量技術(shù)，APS 3321的測量粒徑可以達(dá)到0.37-20μm。雖然光學(xué)散射強(qiáng)度并不總是顆粒物粒徑的可靠表征參數(shù)，但它仍然是人們感興趣的一項參數(shù)。APS 3321可以分別提供同一粒徑的空氣動力學(xué)粒徑和光學(xué)散射強(qiáng)度這兩項參數(shù)的數(shù)據(jù)，并單獨(dú)存儲。

主要特性

• 雙峰光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生高精度檢測
• 測量0.37至20 µm粒子的光散射強(qiáng)度
• 測量0.5至20 µm粒子的空氣動力學(xué)粒徑

技術(shù)指標(biāo)