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日立臺式顯微鏡 TM4000 / TM4000 Plus

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更新時間:2023-04-07 10:41:46瀏覽次數(shù):251

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品詳情:臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品詳情:

 

臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。

我們以更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。

 

產(chǎn)品特點:

觀察圖像3分鐘??裳杆佾@得所需數(shù)據(jù),并制作報告。

 

 

|| 觀察與分析的靈活性

自動獲取各類數(shù)據(jù)??焖偾袚Q!

可快速獲得元素分布圖*2

 

*1   TM4000PlusⅡ的功能。

*2   選配

 

 

|| 使用Camera Navi*的話,就是如此簡單

Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察


*   選配:Camera Navi系統(tǒng)

 

 

|| 操作簡單且快捷

觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測試報告。

 

|| Report Creator可讓您輕松制作報告

 

只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報告

 


|| 即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進(jìn)行觀察。

靜電減輕模式"可抑制靜電現(xiàn)象

 

對于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用靜電減輕模式",在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。

只需用鼠標(biāo)在軟件上點擊即可切換到靜電減輕模式"。 

 

|| 可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察

對于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。

 

 

 

|| 可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像(表面形狀)觀察。

無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品??煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

 

 

|| 高感度低真空二次電子檢測器

采用高感度低真空二次電子檢測器(UVD)。通過檢測由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測器,來檢測電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。 

 

|| 可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。

憑借EDS分析(選配),可進(jìn)行更高計數(shù)率解析。

 

|| 通過加速電壓20 kV,實現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N 

|| Multi Zigzag(選配)

 

可實現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。

搭配自動馬達(dá)臺,可實現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。 

 

|| EM 樣品臺(選配)

 

|| 可輕松觀察 STEM 圖像

與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺和高靈敏度低真空二次電子檢測器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。

可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品. 

 

 

|| 產(chǎn)品規(guī)格:




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