Zetasizer Pro 納米粒度電位儀

充滿信心地邁步向前

Zetasizer Pro 是一種強大且多用途的測量系統(tǒng)，適用于測量顆粒和分子大小以及納米顆粒的電泳遷移率和電動電勢。其大小測量速度比前代型號最多快三倍，可加大樣品處理量，使操作人員和系統(tǒng)有更多時間能夠完成其他任務。

它擁有直觀的界面，由深度學習支持的數(shù)據(jù)質量診斷系統(tǒng)可以突出顯示問題并提供關于如何克服這些問題的建議，即使是剛入門的用戶也能完成品質的測量。

概述

Zetasizer Pro 采用非侵入背散射 (NIBS®) 技術，可在廣泛的濃度范圍內對顆粒和分子大小進行精準測量。

該系統(tǒng)還利用 M3-PALS 技術提供出色的電動和電泳遷移率測量。增加的恒流模式可在高導電性介質中測量電泳遷移率和電動電勢，從而減少由于較高離子濃度下的電荷屏蔽而出錯的可能性。

大量可供選擇的試管適用于各種測量應用(包括一次性、高性價比折疊毛細管樣品池)，能在極低樣品量的情況下使用我們的擴散障礙法進行測量，不會產(chǎn)生直接樣品電極接觸。

新軟件套件 ZS Xplorer 可簡化復雜分析并實現(xiàn)自動化，從而在不具備專業(yè)知識的情況下完成充滿挑戰(zhàn)的測量。其的以樣品為中心的工作流程帶來的可用性和靈活性，這意味著比以往更快速、更輕松地完成從樣品輸入到結果輸出的過程。

工作原理

Zetasizer Pro 在一種緊湊型裝置中包含了三種技術，并且擁有一系列選件及附件，以便優(yōu)化并簡化不同樣品類型的測量。

動態(tài)光散射法 (DLS)用于測量粒度及分子大小。DLS 可測量作布郎運動顆粒的擴散情況，并采用斯托克斯-愛因斯坦方程將其轉化為顆粒粒度與粒度分布。使用的非侵入式背散射 (NIBS) 技術可在泛的粒度及濃度范圍內實現(xiàn)的靈敏度。

DLS 是一種靈活性的顆粒測量方法，具有快速、準確、可重復的特點。它只需要少量的樣品即可完成分析，并且可做到無損。這種技術不考慮材料因素，因此具有極廣泛的適用性。

電泳光散射法 (ELS)用于測量電動電勢。分子和顆粒在施加的電場作用下做電泳運動，其運動速度與電荷直接相關 使用型激光相干技術 M3-PALS(相位分析光散射法)檢測其速率。這樣即可計算電泳遷移率，并得出樣品的電動電勢及電動電勢分布。

ELS 的運用一般關系到穩(wěn)定性和配方應用。不帶凈電荷的顆?；蚍肿涌赡軙澈显谝黄?，可能會是系統(tǒng)遇到的一種困難(例如可能是附聚物的配方)。不帶凈正極或凈負極電荷的顆?；蚍肿訉⒏玫乇舜吮３志嚯x，從而形成穩(wěn)定的系統(tǒng)。包含這些顆?；蚍肿拥呐浞綐O易受其電荷態(tài)的影響，對 pH 值、添加劑濃度和離子濃度等配方屬性的變更可能會影響產(chǎn)品穩(wěn)定性和儲存期。

ZS Xplorer 軟件套件

該軟件的設計非常簡單易用，即使是在復雜方法的快速構建中也同樣如此。關于要測量的樣品、其條件以及變量的信息在運行開始時輸入，并且 ZS Xplorer 將根據(jù)這些信息對用于該樣品的方法進行智能優(yōu)化。由深度學習支持的數(shù)據(jù)質量指導系統(tǒng)可提供關于結果的反饋，并針對如何對數(shù)據(jù)進行必要的改進提出清晰的建議。

選件

MPT-3 自動滴定儀可幫助研究 pH 值變化的影響。

一系列一次性及可重復使用的樣品池優(yōu)化不同樣品體積和濃度的測量。

技術指標