SC-E型大米外觀品質(zhì)檢測分析儀

用途：用于各種類大米（精米、糙米、糯米等）各項外觀品質(zhì)指標(biāo)的精準(zhǔn)自動檢測，可進行多參數(shù)、批量化的自動分析。

環(huán)境條件：溫度10~30℃，相對濕度≤85%，防止強光照射。儀器應(yīng)放在平穩(wěn)工作臺上，周圍無強烈的機械振動和電磁干擾；電源要求220V±10%，50Hz。

特點：

• 配光學(xué)分辨率4800×9600、A4加長的雙光源彩色掃描儀來成像（中晶 ScanMaker i800 Plus）。透掃幅面30 cm×20 cm，最小像素尺寸0.0053mm ×0.0026 mm。
• 可自動一次性測量分析30g以上大米樣品的：堊白度/率、碎米率及小碎米率、整精米數(shù)量、整精米率、可直接檢測大米透明度的國標(biāo)等級（國家發(fā)明號ZL 2013 1 0172280.X）、黃粒米、雜質(zhì)量、異品種粒、不完善粒（未成熟粒），及糯米的陰米率、病斑或黃變率。還可自動分析大米的裂紋率，糙米胚芽率。
• 具有自動學(xué)習(xí)與識別特性，可自動分割粘連的大米、種粒，可做自動分類分析。
• 具有樣本條碼、電子天平RS232數(shù)據(jù)軟件接口?？杉鏈y的種粒范圍0.25-20mm，自動數(shù)粒精度≥99%，交互修正后準(zhǔn)確率達99%。
• 自動測量每粒的面積、長徑、短徑、長寬比、圓度、等效直徑（長度測量誤差≤±0.05mm，長寬比測量誤差≤±0.05，重現(xiàn)性誤差≤±0.02；整精米率、碎米率指標(biāo)測量誤差≤±1.0%、重現(xiàn)性誤差≤±0.25%）。
• 可大批量自動分析處理與輸出結(jié)果。與國標(biāo)GB/T1350稻谷、GB/T17891優(yōu)質(zhì)稻谷或GB1354-2018大米、新標(biāo)準(zhǔn)【大米】NY/T2334-2013、大米粒型分類判定LS/T6116-2016、糧食行業(yè)標(biāo)準(zhǔn) 大米LS/T 3247—2017、GBT35881-2018糧油檢驗 稻谷黃粒米含量測定，圖像分析法等標(biāo)準(zhǔn)相對應(yīng)，檢測各項指標(biāo)的質(zhì)量比和粒數(shù)比。
• 各分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標(biāo)記圖，以及按寬度、長度、面積等輸出的排列圖和測量圖。

系統(tǒng)組成：

• Microtek ScanMaker i800 plus雙光源掃描儀 1臺
• 快速鋪米器 1臺
• 軟件光盤1張，軟件鎖1只
• 電腦（電腦另配）。

選配電腦推薦：品牌電腦（酷睿i5 CPU / 8G內(nèi)存/ 19.5"彩顯/無線網(wǎng)卡，5個以上USB2.0口，運行環(huán)境Windows 10完整專業(yè)版或旗艦版）

產(chǎn)地：中國