HAST老化試驗(yàn)系統(tǒng)

HAST老化試驗(yàn)系統(tǒng)

AS-HAST-53

試驗(yàn)箱內(nèi)部容積:W*H*L（mm）355*355*426

系統(tǒng)體積:日本原裝HAST試驗(yàn)箱+配線系統(tǒng)

適用于各種封裝的二極管、半橋、全橋，集成電路，功率模塊等進(jìn)行HAST試驗(yàn)。

試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：JESD22-A110、AEC-Q101、JESD22A-118、JESD22-A102

測(cè)試板:每塊板上40工位，每個(gè)工位串聯(lián)一個(gè)保險(xiǎn)絲，8個(gè)材料并在一起引出一根線接至檢測(cè)點(diǎn)，外端8個(gè)檢測(cè)點(diǎn)共用一個(gè)電流檢測(cè)裝置。測(cè)試能力：電壓200V。

通道分區(qū)：4個(gè)老化試驗(yàn)通道，2個(gè)獨(dú)立直流電源。每個(gè)電源對(duì)應(yīng)2個(gè)通道一批材料。

滿載容量：40顆/每通道×4通道＝160顆。

電源配置：系統(tǒng)配置二臺(tái)品牌電源，電源規(guī)格如下：

試驗(yàn)電源 PS1 PS2

輸出電壓 0～300V 0～300V

輸出電源 0～2.5A 0～2.5A