詳細(xì)介紹
主要用途如下:
1. 直角坐標(biāo)中測(cè)定長(zhǎng)度,例如測(cè)定孔距,基面距離,刻線寬度,鍵槽寬度,狹縫寬度,通孔外圓直徑等等。
2. 轉(zhuǎn)動(dòng)度盤(pán)測(cè)定角度,例如對(duì)刻度盤(pán),樣板、量規(guī),鉆孔模板及幾何形狀復(fù)雜的零件進(jìn)行角度測(cè)量。
3. 用作觀察顯微鏡,以比較法檢查工作表面光潔度,鑒定冶金工業(yè)的礦石標(biāo)本。檢定印刷照相制版,檢驗(yàn)紡織纖維等等。
一、15J測(cè)量顯微鏡技術(shù)參數(shù):
1、放大倍數(shù):
物 鏡 | 目 鏡 | 顯微鏡 放大倍數(shù) | 工作 距離 | 視場(chǎng) 直徑 | ||
放大倍數(shù)/ 數(shù)值孔徑 | 焦距 | 放大倍數(shù) | 焦距 | |||
2.5×/ 0.08 | 43.40 | 10× 帶分劃板 | 25.00 | 25× | 58.84 | 5.6 |
10×/ 0.25 | 17.13 | 100× | 7.81 | 1.4 |
2、測(cè)量工作臺(tái)讀數(shù)裝置主要規(guī)格:X- Y軸移動(dòng)測(cè)量范圍:50mmx13mm
3、測(cè)微器分度值:0.01mm
4、測(cè)量臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍:不限
5、測(cè)量臺(tái)刻度盤(pán)分度范圍:00 ~ 360度
6、測(cè)量臺(tái)刻度盤(pán)之分度值:10
7、測(cè)量臺(tái)刻度盤(pán)游標(biāo)讀數(shù)示值:6秒
8、測(cè)量精度:儀器示值誤差±(5+L/15)μm
儀器示值誤差: 包括測(cè)量誤差與儀器系統(tǒng)誤差。
注: 測(cè)量地點(diǎn)溫度變化(20度±30度)
L-被測(cè)件長(zhǎng)度(mm)
9、儀器之主要尺寸:
測(cè)量臺(tái)與物鏡之間距離:80mm
測(cè)量工作臺(tái)直徑:120mm
10、儀器外形尺寸:高325×長(zhǎng)262×寬220mm
11、儀器重量:約10.6Kg