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雙晶探頭5E10

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更新時(shí)間:2023-11-08 11:23:12瀏覽次數(shù):173

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檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度,也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值(在P-E-Ct模式下)。

詳細(xì)介紹

檢測(cè)對(duì)象:測(cè)量金屬罐體、容器、大直徑管道的壁厚,可直接測(cè)得基材的厚度值并忽略涂層厚度,也可同時(shí)顯示出基材和涂層的厚度值(在P-E-Ct模式下)。
技術(shù)特點(diǎn):
工作頻率:5MHz;
測(cè)厚范圍(對(duì)于鋼):1.5至300.0mm(在P-E和P-E-Ct模式下);
1.0至20.0mm(在E-E-E模式下);
可穿透涂層厚度為2.0mm(在E-E-E模式下);
可穿透涂層厚度為1.0mm(在P-E-Ct模式下);
接觸面尺寸:Φ12mm;
探頭外形尺寸:Φ25×47mm;
工作溫度范圍:-1至+60℃。

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