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日立臺(tái)式顯微鏡-TM4000II/TM4000PlusII

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更新時(shí)間:2023-11-06 09:52:37瀏覽次數(shù):155

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。參數(shù)規(guī)格:項(xiàng)目TM4000PlusIITM4000II倍率×10~×100,000(照片倍率)×25~×250,000(顯示器倍率)加速電壓5 kV、10 kV、15 kV、20 kV圖像信號(hào)背散射電子......

詳細(xì)介紹


TM4000.jpg

臺(tái)式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級(jí)。

我們以“更高畫質(zhì)、更易于使用、更易于觀察"為理念,開發(fā)出TM4000系列。在此基礎(chǔ)上,我們又推出功能更為多樣的TM4000Ⅱ系列。
為您提供全新的觀察和分析應(yīng)用。


參數(shù)規(guī)格:

項(xiàng)目TM4000PlusIITM4000II
倍率×10~×100,000(照片倍率)
×25~×250,000(顯示器倍率)
加速電壓5 kV、10 kV、15 kV、20 kV
圖像信號(hào)背散射電子
二次電子
復(fù)合圖像(背散射電子+二次電子)
背散射電子
真空模式導(dǎo)電體(僅背散射電子)
標(biāo)準(zhǔn)
靜電減輕
標(biāo)準(zhǔn)
靜電減輕
樣品可移動(dòng)范圍X:40 mm Y:35 mm
樣品尺寸:80 mm(直徑) 50 mm(厚度)
電子槍集中燈箱(Pre-Centered Catridge Filament)
檢測(cè)器背散射電子:高感度4分割 背散電子檢測(cè)器
二次電子:高感度低真空 二次電子檢測(cè)器
背散射電子:高感度4分割 背散射電子檢測(cè)器
排氣系統(tǒng)
(真空泵)
渦輪分子泵:67 L/s 1臺(tái)
隔膜泵:20 L/min
尺寸與重量主體:330(寬度)×614(進(jìn)深)×547(高度) mm、54 kg(附帶馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的樣品臺(tái))
主體:330(寬度)×617(進(jìn)深)×547(高度) mm、54 kg(附帶手動(dòng)樣品臺(tái))
隔膜泵:144(寬度)×270(進(jìn)深)×216(高度) mm


產(chǎn)品特點(diǎn):


觀察圖像3分鐘。可迅速獲得所需數(shù)據(jù),并制作報(bào)告。

觀察與分析的靈活性

自動(dòng)獲取各類數(shù)據(jù)。快速切換!

可快速獲得元素分布圖*2

*1TM4000PlusⅡ的功能。*2選配

使用Camera Navi*的話,就是如此簡(jiǎn)單

Camera Navi圖像讓您輕松找到視野,分布圖(MAP)功能全程支持您的觀察

*選配:Camera Navi系統(tǒng)
  • 您也可以觀看視頻

操作簡(jiǎn)單且快捷

觀察圖像只需 3 分鐘。
可快速觀察圖像,并導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告。


Report Creator可讓您輕松制作報(bào)告

只需選擇圖像和模板,就可以制作Microsoft Word、Excel、PowerPoint格式的報(bào)告

即便是絕緣物樣品,也無需預(yù)處理,就可直接進(jìn)行觀察。

“靜電減輕模式"可抑制靜電現(xiàn)象

對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的樣品,可使用“靜電減輕模式",在抑制靜電的狀態(tài)下進(jìn)行觀察。
只需用鼠標(biāo)在軟件上點(diǎn)擊即可切換到“靜電減輕模式"。

可在低真空的條件下進(jìn)行多種觀察

對(duì)于容易產(chǎn)生靜電的粉末或含水等樣品,可結(jié)合其目的進(jìn)行觀察。

可在低真空的條件下進(jìn)行二次電子像(表面形狀)觀察。

無需預(yù)處理,也可以觀察絕緣物和含水、含油樣品的表面

不僅是觀察傳統(tǒng)的導(dǎo)電性樣品,還可以在無預(yù)處理的條件下觀察絕緣物和含水、含油樣品??煽焖龠M(jìn)行二次電子像與背散射電子像之間的切換。

高感度低真空二次電子檢測(cè)器
采用高感度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)。通過檢測(cè)由于電子線與殘留氣體分子之間的碰撞而產(chǎn)生的光,可以觀察帶有二次電子信息的圖像。此外,通過控制該檢測(cè)器,來檢測(cè)電子照射所產(chǎn)生的光,可以獲得CL信息(UVD-CL:帶有CL信息的圖像)。


高感度低真空二次電子檢測(cè)器的檢測(cè)原理

可支持加速電壓20 kV

TM4000Ⅱ/TM4000Plus II可支持加速電壓20 kV。
憑借EDS分析(選配),可進(jìn)行更高計(jì)數(shù)率解析。

通過加速電壓20 kV,實(shí)現(xiàn)EDS元素分布圖的高S/N化

Multi Zigzag(選配)

可實(shí)現(xiàn)在廣域范圍內(nèi)進(jìn)行SEM觀察。
搭配自動(dòng)馬達(dá)臺(tái),可實(shí)現(xiàn)低倍率,高精度,大范圍的觀察分析。

非常簡(jiǎn)單的 EDX 分析


面分析 譜峰分析


線分析


EM 樣品臺(tái)(選配)

可輕松觀察 STEM 圖像

與全新開發(fā)的 STEM 樣品臺(tái)和高靈敏度低真空二次電子檢測(cè)器(UVD)配合使用,可輕松觀察小倍率 STEM 圖像。
可輕松觀察薄膜樣品和生物樣品。


* UVD為 TM4000Plus II上的配件。






樣品:研磨劑
加速電壓:20 kV
觀察信號(hào):(a) STEM 圖像, (b) 背散射電子像
放大倍率:10000 倍



樣品:老鼠腎臟 樣品:老鼠肝臟
加速電壓:15 kV 加速電壓:15 kV
觀察信號(hào): STEM 圖像 觀察信號(hào): STEM 圖像
放大倍率:1000倍 倍率:5000倍







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