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IM3570阻抗分析儀

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更新時間:2023-11-07 11:01:49瀏覽次數(shù):144

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產(chǎn)品簡介

1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查● LCR模式下1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量● 基本精度±0.08%的高精度測量● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量●......

詳細(xì)介紹

1臺儀器實現(xiàn)不同測量條件下的高速檢查

● 1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
● LCR模式下1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
● 基本精度±0.08%的高精度測量
● 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
● 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
● 可以用于無線充電評價系統(tǒng)TS2400


參數(shù).jpg


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