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深圳市世家儀器有限公司>>Tektronix(泰克)>>P6139BP6139B無源探頭

P6139B無源探頭

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  • P6139B無源探頭

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  • 型號 P6139B
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 所在地 深圳市

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更新時間:2023-12-10 15:16:52瀏覽次數(shù):129

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產(chǎn)品簡介

P6139B無源探頭

詳細(xì)介紹

  • P6139B和P5050B探測高帶寬、高阻抗10 x被動電壓探針MΩ輸入電阻。這些探頭的特點是探頭頭小,鋒利,便于探測密集的電路。P6139B和P5050B具有相似的電氣規(guī)格,但支持不同補(bǔ)償范圍的Tektronix示波器。請訪問位于/probes:theoscilloscope Probe & Accessory Selector Tool,以確保為您的示波器選擇了正確的探頭。


    關(guān)鍵性能規(guī)范


    500 MHz探頭帶寬

    大型探測器輸入阻抗(10 M?8 pf)

    10倍衰減因子

    輸入電壓300v CAT II

    易用性特性


    用于探測小型幾何電路元件的緊湊探頭

    小探頭體,增強(qiáng)對被測設(shè)備的可視性

    可更換的探針頭墨盒

    大型配件集多功能連接

    連接


    P6139B和P5050B特性的TekProbe界面直接BNC連接示波器1 M?輸入。

    集成示波器和探頭測量系統(tǒng)的特點是智能通信,自動縮放和調(diào)整示波器顯示單元。

    應(yīng)用程序


    低功率設(shè)備

    服務(wù)

    制造工程

    測試研究及發(fā)展

  • The P6139B and P5050B probes are high bandwidth, high impedance 10X passive voltage probes with 10 MΩ input resistance. These probes feature a small probe head and sharp tip that makes it easier to probe dense circuitry. The P6139B and P5050B share similar electrical specifications but support Tektronix oscilloscopes with different compensation ranges. Visit theOscilloscope Probe & Accessory Selector Tool located at/probesto ensure the correct probe is selected for your oscilloscope.

    Key performance specifications
    • 500 MHz probe bandwidth

    • Large input impedance at the probe tip (10 M?, 8pF)

    • 10X attenuation factor

    • 300 v CAT II input voltage

    Ease-of-use features
    • Compact probe head for probing small geometry circuit elements

    • Small probe body for enhanced visibility to the Device-Under-Test

    • Replaceable probe tip cartridges

    • Large accessory set for versatile connectivity

    Connectivity
    • P6139B and P5050B feature the TekProbe interface for direct BNC connection for oscilloscopes with 1 M? inputs.

    • Integrated oscilloscope and probe measurement systems feature intelligent communication that automatically scales and adjusts units on the oscilloscope display.

    Applications
    • Low power devices

    • Service

    • Manufacturing engineering

    • Test research and development


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