詳細(xì)介紹
商品詳情
產(chǎn)品介紹:
的納米領(lǐng)域研究利器。的三軸分離設(shè)計,既保證了XYZ三個方向無耦合效應(yīng),從原理上消除了平面扭曲誤差;同時獨立的Z軸掃描器,實現(xiàn)了真正的非接觸式掃描,極大地擴(kuò)展了樣品適用范圍。自上而下的直視光路,方便用戶對探針和樣品的觀察,專門設(shè)計的探針安裝方式,簡化了光路調(diào)整過程,降低了操作難度。
產(chǎn)品特點:
精確的XY方向掃描,消除了交叉耦合誤差
獨立的閉環(huán)XY平板式掃描器和Z軸掃描器
全掃描范圍水平線性誤差小于2nm
精確的高度測量
真正的非接觸掃描莫使延長了探針壽命,保證了高分辨率,保護(hù)了樣品
Z軸伺服速度相比管式掃描器提高了10倍
非接觸模式降低了探針磨損,延長了探針壽命
成像分辨率由于同類原子力顯微鏡
增強(qiáng)了樣品兼容性,提高了掃描精度
的功能拓展方案
支持多種SPM模式
多種可選配測量模式
多種可選配件,的拓展性
便利的操作設(shè)計
開放式樣品空間,樣品及探針更換極為方便
預(yù)對準(zhǔn)探針安裝與同軸光路設(shè)計方便激光調(diào)整
燕尾鎖設(shè)計方便掃描頭拆卸
產(chǎn)品圖片
所有商品圖片均由廠家提供;請以收到的實物為準(zhǔn)!
規(guī)格參數(shù)
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