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貴金屬測(cè)試儀

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更新時(shí)間:2023-11-14 15:01:11瀏覽次數(shù):115

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地 上海 是否進(jìn)口 否 ......

詳細(xì)介紹



技術(shù)指標(biāo)
  分析范圍:1%~99.99%
  測(cè)量時(shí)間:自適應(yīng)
  測(cè)量精度:±0.1%
  測(cè)試環(huán)境:常溫常態(tài)
  分析元素:Au、Ag、Pt、Pb、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
X射線源:X射線光管
  高壓器:4~50Kv
  分析:多通道模擬
  操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP

鍍層測(cè)量:
  鍍層厚度范圍<30μm
  可測(cè)量元素種類:Au、AG、PT、Pd、Rh、Ru、Cu、Zn、Ni、CD
  大測(cè)量層數(shù):5層
  測(cè)量精度:0.03μm




產(chǎn)品介紹:  

 硬件性:符合嚴(yán)格的輻射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)的同時(shí)更具備簡(jiǎn)易的樣品放置和耗材更換模式。探頭指標(biāo)高,性能好,壽命長(zhǎng);全新32位軟硬件系統(tǒng),工作可靠,效率高;配備高清晰的攝像定位系統(tǒng),測(cè)量更直觀、方便、快捷。配置固定樣品用多軸向夾具。

在普通光譜測(cè)金儀的平臺(tái)上集成工業(yè)級(jí)計(jì)算機(jī),升級(jí)了顯示屏幕和電路結(jié)構(gòu),無需再外接電腦;造型時(shí)尚專業(yè),帶多節(jié)點(diǎn)預(yù)啟動(dòng)裝置和實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng);帶門鎖電鎖,使得日常管理更便捷;加裝自動(dòng)防輻射泄漏裝置,主動(dòng)性的保證使用人員安全;帶電動(dòng)開蓋裝置,令測(cè)試更輕松。

  激發(fā)源:Mo靶的X光管風(fēng)冷()
  測(cè)量點(diǎn)尺寸:1~2mm
  樣品室:長(zhǎng)400mm×寬:300mm×高:0~90mm樣品放大成像系統(tǒng)
  軟件:菜單式軟件,帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評(píng)估及計(jì)算
  計(jì)算機(jī):選擇配置
  檢測(cè)器:固定式半導(dǎo)體封氣正比計(jì)數(shù)器微處理器控制的檢測(cè)器和讀出電路


  其它規(guī)格:
  電壓:100~127或200~240V,50/60Hz
  大功率:120W
  大處尺寸:500mm*500mm*400mm
  重量:48kg


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