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詳細介紹
技術指標：
元素分析范圍從鉀（K）到鈾（U）。
分析含量一般為1ppm到99.9％。
可測試鍍層厚度薄至0.05um。
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回歸程序。
多次測量重復性可達0.1％。
長期工作穩(wěn)定性為0.1％。
儀器介紹：
適合于野外工作的客戶的儀器，能夠方便的攜帶出去，到野外工作，可用于礦產(chǎn)等行業(yè)。該款儀器獲得CE認證。
性能特點：
1. 使用一體化微型端窗X光管，大面積Si-PIN探測器，具有高信噪比的電子線路單元，使儀器具有與臺式X熒光光譜儀相當?shù)臏y試性能；
2. 樣品腔為封閉圓形結構，具有良好的射線屏蔽性能；
3．四組可方便切換的濾光片，使儀器不論全元素分析還是ROHS檢測，對應各種基材測量不同的元素，都能得到理想的效果；
4．主機使用PDA掌上電腦，使用無線藍牙連接，輕巧方便，測試數(shù)據(jù)盡在掌中；
5. 包裝箱與儀器一體化設計，緊固防水，對惡劣野外環(huán)境也能應付自如；
6. 大容量鋰電池供電，儀器可獨立工作足夠長時間，也使用交流轉直流適配器，連接交流電源工作。
標準配置：
與儀器一體化設計的包裝箱。
四組可切換濾光片。
激光定位裝置。
帶鉛屏蔽罩封閉樣品腔。
SI-PIN探測器。
信號檢測電子電路。
一體化微型端窗X光管。
無線藍牙連接PDA掌上電腦。
自帶充電電路的大容量鋰電池和交流轉直流適配器。
外觀尺寸： 359×247×173 mm（帶箱）
315×188×129 mm（不帶箱）
樣品腔尺寸：137×122×35 mm
重量：9Kg
應用領域
水文調查
鍍層測定
鍍液分析
地質探礦
考古研究
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