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北京星宇環(huán)試科技有限公司>>超低溫試驗箱(-185~200℃)>>超低溫試驗箱

超低溫試驗箱

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更新時間:2023-12-07 15:06:37瀏覽次數(shù):150

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產(chǎn)品簡介

高低溫試驗箱廣泛應(yīng)用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室,涉及航空、航天、兵器、船舶、汽車、智能制造、新能源、通訊、計量、電子、鐵路、電力、醫(yī)療及科研院校等諸多國民經(jīng)濟的重點領(lǐng)域,在高低溫環(huán)境條件下對測試件溫度應(yīng)力檢測、溫度篩選、可靠性測試、性能測試、耐候試驗、高低溫儲存等。

詳細介紹


產(chǎn)品用途:

 高低溫試驗箱廣泛應(yīng)用于重點實驗室和大型第三方檢測測試實驗室,涉及航空、航天、兵器、船舶、汽車、智能制造、新能源、通訊、計量、電子、鐵路、電力、醫(yī)療及科研院校等諸多國民經(jīng)濟的重點領(lǐng)域,在高低溫環(huán)境條件下對測試件溫度應(yīng)力檢測、溫度篩選、可靠性測試、性能測試、耐候試驗、高低溫儲存等。

產(chǎn)品特點:
新型制冷:壓縮機制冷可實現(xiàn)-70℃~-170℃任意溫度
有效節(jié)能:低溫試驗時降低電力消耗30%以上
性能突出:性能指標優(yōu)于標要求
外形緊湊:500升以內(nèi)均可輕松進實驗室,節(jié)約占地空間
優(yōu)化風(fēng)道:基于CFD的流體力學(xué)設(shè)計,風(fēng)路循環(huán)更合理
操作簡捷:人性化操作界面,一建啟停,無需培訓(xùn)
多重保護:確保人員、試件及設(shè)備無憂使用



執(zhí)行及滿足標準:
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 低溫試驗方法
GB/T 2423.2-2008 高溫試驗方法
GJB 150.3A-2009 高溫試驗方法
GJB 150.4A-2009 低溫試驗方法
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法
JJF 1101-2003 環(huán)境試驗設(shè)備溫度、濕度校準規(guī)范
GB/T 5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備



技術(shù)指標

產(chǎn)品名稱

低溫(濕熱)試驗箱

產(chǎn)品型號

HZ-XY-UTH100

HZ-XY-UTH250 

HZ-XY-UTH500

HZ-XY-UTH1000

內(nèi)箱容積

升/L

100

250

500

1000

內(nèi)箱尺寸

W*D*Hcm)

45×45×50

60×60×70

75×75×90

100×100×100

外形尺寸

W*D*Hcm)

65×100×145

80×120×170

95×140×190

120×150×195

性能指標

                     

溫度范圍

A、-90℃+50℃    B、-120℃+50℃    C、 -150℃+50℃   D、-170℃+50℃

濕度范圍

 20%~98%RH     

溫度波動度

≤±0.5

濕度波動度

≤±2%RH

溫度均勻度

≤2.0℃

溫度偏差

≤±2.0℃

濕度偏差

濕度>75%RH:≤+2,-3%RH;濕度<75%RH:≤±5%RH

降溫時間

+25℃-90≤2H       +25℃-120≤3H

+25℃-150≤4H      +25℃-170≤5H

制冷方式

壓縮機制冷

冷卻方式

F、風(fēng)冷       W、水冷


     




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