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涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌

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所  在  地北京市

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品名稱: 涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100
產(chǎn)品型號(hào): MINITEST1100-4000
產(chǎn)品展商: 北京時(shí)代辰天科技有限公司
產(chǎn)品介紹

涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100德國(guó)EPK公司MINITEST 4100-3100-2100-1100用于測(cè)量以下覆層(覆層包括涂層,鍍層等):? 鋼鐵基體上的非磁性覆層? 有色金屬上的絕緣覆層? 絕緣基體上的有色金屬覆層

涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100的詳細(xì)介紹

涂層測(cè)厚儀MINITEST1100-4100
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
所有型號(hào)均可配所有探頭;
可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī);
可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)。
 

涂層測(cè)厚儀MiniTest1100

涂層測(cè)厚儀MiniTest功能
型號(hào)
1100
2100
3100
4100
MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
1
1
10
99
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì),并可設(shè)寬容度極限值)
-
1
10
99
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)
-
1
500
500
數(shù)據(jù)總量
1
10000
10000
10000
MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
-
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
-
-
組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
-
-
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
-
-
-
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
-
-
顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間
-
其他功能
設(shè)置極限值
-
-
連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別最小值
-
-
連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
-
-
連續(xù)測(cè)量模式中顯示最小值
-
-

涂層測(cè)厚儀MiniTest可選探頭參數(shù)(
探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
<>
探頭
量程
低端
分辨率
誤差
最小曲率
半徑(凸/凹)
最小測(cè)量
區(qū)域直徑
最小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F05
0-500μm
0.1μm
±(1%±0.7μm)
1/5mm
3mm
0.2mm
φ15x62mm
F1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/6mm
5mm
0.5mm
φ8x8x170mm
F3
0-3000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
0.5mm
φ15x62mm
F10
0-10mm
5μm
±(1%±10μm)
5/16mm
20mm
1mm
φ25x46mm
F20
0-20mm
10μm
±(1%±10μm)
10/30mm
40mm
2mm
φ40x66mm
F50
0-50mm
10μm
±(3%±50μm)
50/200mm
300mm
2mm
φ45x70mm

FN1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面
30mm
F0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN2
0-2000μm
0.2μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
5mm
F0.5mm
N50μm
φ15x62mm



N02
0-200μm
0.1μm
±(1%±0.5μm)
1/10mm
2mm
50μm
φ16x70mm
N.08Cr
0-80μm
0.1μm
±(1%±1μm)
2.5mm
2mm
100μm
φ15x62mm
N1.6
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
1.5/10mm
2mm
50μm
φ15x62mm
N1.6/90
0-1600μm
0.1μm
±(1%±1μm)
平面/10mm
5mm
50μm
φ13x13x170mm
N10
0-10mm
10μm
±(1%±25μm)
25/100mm
50mm
50μm
φ60x50mm
N20
0-20mm
10μm
±(1%±50μm)
25/100mm
70mm
50μm
φ65x75mm
N100
0-100mm
100μm
±(1%±0.3mm)
100mm/平面
200mm
50μm
φ126x155mm
上一個(gè): 涂鍍層測(cè)厚儀MikroTest 6
下一個(gè): 時(shí)代TT220涂層測(cè)厚儀

關(guān)鍵詞:測(cè)厚儀

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