干燥設(shè)備 粉碎設(shè)備 混合設(shè)備 反應(yīng)設(shè)備 過濾分離設(shè)備 過濾材料 滅菌設(shè)備 萃取設(shè)備 貯存設(shè)備 傳熱設(shè)備 鍋爐 塔設(shè)備 結(jié)晶設(shè)備 其他制藥設(shè)備
陜西天士立科技有限公司
會(huì)員1.png)
陜西天士立科技有限公司
產(chǎn)品型號ST-HeatX
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地西安市
聯(lián)系方式：王偉查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2024-07-19 09:49:43瀏覽次數(shù)：120次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來自 制藥網(wǎng)| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
|---|---|---|---|
| 自動(dòng)化程度 | 全自動(dòng) |
熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn)，可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組的_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)熱阻_穩(wěn)態(tài)熱阻_Kcurve_Rth_Zth_熱結(jié)構(gòu)分析
熱阻測試儀_陜西天士立ST-HeatX_平替進(jìn)口。產(chǎn)品符合JESD 51-1、JESD 51-14標(biāo)準(zhǔn)，可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)，用于DIODE、IGBT、MOSFET、HEMT、GTO、功率IC等多種類型功率器件及其模組的_熱阻抗_熱特性_瞬態(tài)熱阻_穩(wěn)態(tài)熱阻_Kcurve_Rth_Zth_熱結(jié)構(gòu)分析
超高精度：溫度(T;)分辨率0.01℃℃，1MHz變頻采樣:
技術(shù)領(lǐng)：第三代瞬態(tài)熱測試技術(shù)，可輸出結(jié)構(gòu)函數(shù)進(jìn)行熱結(jié)構(gòu)分析
行業(yè)：具備4路高速高精度采集模塊，采樣速度，精度均達(dá)到行業(yè)D尖水平
架構(gòu)：采用B/S架構(gòu)控制系統(tǒng)、可遠(yuǎn)程對設(shè)備進(jìn)行狀態(tài)監(jiān)控和控制，實(shí)現(xiàn)智能化;
瞬態(tài)監(jiān)測：連續(xù)采集加熱和冷卻區(qū)的結(jié)溫變化，同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)數(shù)據(jù);
NPS技術(shù)：同步采集溫度監(jiān)控點(diǎn)(NTC/PTC)和結(jié)溫?cái)?shù)據(jù)，形成數(shù)據(jù)關(guān)系矩陣。
器件結(jié)殼熱阻測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
Die-Attach熱阻測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
DBC/AMB基本熱特性測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
界面熱阻測量與分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
PCB板級散熱結(jié)構(gòu)分析ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
散熱器性能測量ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
TIM材料熱導(dǎo)率測試ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
熱缺陷檢測ST-HeatX_半導(dǎo)體熱特性熱阻抗測試儀系統(tǒng)
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
制藥網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
