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熒光光譜儀-SPECTRO XEPOS
杰出的靈敏度帶來高達3倍的精度改進——這是分析維量到主量元素含量時高準確性的基礎(chǔ)
可以檢測到極低的痕量元素：自適應(yīng)激發(fā)、前沿的X光管設(shè)計和高計數(shù)率的檢測系統(tǒng)顯著降低了多種元素（通常為1/3）的檢測極限
產(chǎn)品參數(shù) >>
新型SPECTRO XEPOS光譜儀代表了能量色散X射線熒光技術(shù)上的巨大突破。它帶來主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性進展。激發(fā)和檢測方面的新發(fā)展實現(xiàn)了杰出的靈敏度和檢測極限——大幅提高精確性和準確度。
SPECTRO XEPOS令人印象深刻，在從快速篩查分析到精確產(chǎn)品質(zhì)量控制等關(guān)鍵任務(wù)中表現(xiàn)十分出色。將它用于各行各業(yè)的臨線處理，包括地質(zhì)和采礦、環(huán)境和廢物檢測以及科研和高校。
不同版本優(yōu)化了特定基體中所含特定元素組的性能。創(chuàng)新的X射線管和的新型自適應(yīng)性激發(fā)技術(shù)造就高靈敏度，全面優(yōu)化所選的目標元素。
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