詳細介紹
儀器種類:原子力顯微鏡
樣品臺移動范圍:10mm*10mm*85mm
樣品尺寸:直徑<90mm>90mm><>
定位檢測噪聲:z<>
自動激光對準
Tosca™ 400 提供自動化的激光對準功能:在安裝懸臂后,儀器自動執(zhí)行激光對準。以這種方式,即使是經(jīng)驗不足的用戶,整個過程耗時也少于 60 秒。
精度的大范圍掃描
100 μm 的 X-Y 向掃描范圍,滿足各種應用。在 Tosca™ 控制軟件中的點擊和移動導航可以輕松調(diào)節(jié) X-Y 方向掃描位置。保證可以精確地定位和掃描您的樣品。Z 方向范圍是 15 μm,可以在寬的 X-Y 區(qū)域中獲取表面形貌并在較大的 Z 向范圍進行粗糙度分析。
AFM 市場上的進針過程
進針過程是將懸臂與樣品表面接觸。這是 AFM 最復雜的操作過程之一。Tosca™ 400 通過實施側(cè)視相機解決了這個難題,側(cè)視相機優(yōu)化了進針過程,從而不需要打開儀器就可以檢查懸臂的位置。
樣品臺移動范圍:10mm*10mm*85mm
樣品尺寸:直徑<90mm>90mm><>
定位檢測噪聲:z<>
自動激光對準
Tosca™ 400 提供自動化的激光對準功能:在安裝懸臂后,儀器自動執(zhí)行激光對準。以這種方式,即使是經(jīng)驗不足的用戶,整個過程耗時也少于 60 秒。
精度的大范圍掃描
100 μm 的 X-Y 向掃描范圍,滿足各種應用。在 Tosca™ 控制軟件中的點擊和移動導航可以輕松調(diào)節(jié) X-Y 方向掃描位置。保證可以精確地定位和掃描您的樣品。Z 方向范圍是 15 μm,可以在寬的 X-Y 區(qū)域中獲取表面形貌并在較大的 Z 向范圍進行粗糙度分析。
AFM 市場上的進針過程
進針過程是將懸臂與樣品表面接觸。這是 AFM 最復雜的操作過程之一。Tosca™ 400 通過實施側(cè)視相機解決了這個難題,側(cè)視相機優(yōu)化了進針過程,從而不需要打開儀器就可以檢查懸臂的位置。