詳細(xì)介紹
MRT微電阻測(cè)試系統(tǒng)
MRT微電阻測(cè)試系統(tǒng)主要用于自動(dòng)監(jiān)測(cè)電子產(chǎn)品或元件在環(huán)境可靠性測(cè)試中電子回路的導(dǎo)通電阻變化。其主要用途如下。
軟板,硬板等 PCB互聯(lián)可靠性測(cè)試
BGA,CSP,SMT焊接焊點(diǎn)互聯(lián)連接器,插接件互聯(lián)可靠性
開(kāi)關(guān),繼電器等各種連接可可靠性測(cè)試測(cè)試靠性測(cè)試
MFT微電阻測(cè)試系統(tǒng)主要特點(diǎn)如下。
●可靈活選擇的測(cè)試通道數(shù)
●系統(tǒng)模塊化結(jié)構(gòu)
●高精度4端電阻測(cè)試.
●高速電阻測(cè)試.
●系統(tǒng)集成試驗(yàn)箱溫度測(cè)量
●多種測(cè)試控制設(shè)置
●基準(zhǔn)電阻測(cè)試及設(shè)置
●多種失效判斷標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置
●測(cè)試數(shù)據(jù)多種形式展示
●測(cè)試中修改測(cè)試時(shí)間,斷點(diǎn)繼續(xù)。