清潔度分析系統(tǒng)BH-CIA500
顯微鏡
BAHENS光學(xué)顯微鏡(ISO16232規(guī)定),放大50倍-500倍,既可做清潔度檢測。
檢測內(nèi)容
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類:顆?;蚶w維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)
上海百賀儀器科技有限公司
主營產(chǎn)品: 拉力試驗機,顯微鏡,硬度計 |
參考價 | 面議 |
BAHENS光學(xué)顯微鏡(ISO16232規(guī)定),放大50倍-500倍,既可做清潔度檢測。
? 雜質(zhì)平面尺寸
? 雜質(zhì)高度
? 雜質(zhì)數(shù)量
? 雜質(zhì)形狀分類:顆?;蚶w維
? 雜質(zhì)性質(zhì)分類:反光(金屬),亞光(非金屬,金屬氧化物)
? 支持多種聚焦模式:補償聚焦、跟蹤聚焦、手動聚焦、EFI聚焦等。
? 采用的聚焦算法,保證在試樣不夠平整的情況下也能得到清晰的圖像;
? 新精確模式可以輕松辨認(rèn)原本會產(chǎn)生誤判的亞光色金屬顆粒(綠色包圍部分),用偏振光照射,記錄在兩個情況下進(jìn)行比較,然后用于準(zhǔn)確區(qū)分金屬和非金屬顆粒。
? 目鏡:大視場雙目觀察,觀察視域大而舒適。
放大倍數(shù)10倍,視場指數(shù)22毫米,三目鏡筒55-75mm可調(diào)瞳距。
? 物鏡:高性能高反差平場物鏡,鍍膜防霉。
5X,10X,20X,50X
? 系統(tǒng)自動識別顆粒、自動分析顆粒類別、自動統(tǒng)計顆粒參數(shù)。同時支持修改顆粒。
? 提供多種統(tǒng)計分析工具:MAP圖、顆粒列表、統(tǒng)計結(jié)果、直方圖等;
? 支持模板化報告生成模式,包含統(tǒng)計數(shù)據(jù)、評級、濾片全貌圖、顆粒照片等信息;