掃描電子顯微鏡 (SEM) 不僅是開(kāi)展科研工作所的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是不可

或缺的。在這些場(chǎng)景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作

效率。 JSM-IT510新增的“簡(jiǎn)單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動(dòng)重復(fù)操作交給它”，

從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

簡(jiǎn)單 SEM

只需選擇目標(biāo)視野

“簡(jiǎn)單 SEM”支持日常工作

樣品：電子元件
加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部） ×1,000（下部），信號(hào)： BE

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