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XT-50型沖擊試樣夏比投影儀

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更新時(shí)間：2021-08-02 18:51:22瀏覽次數(shù)：236次

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XT-50型沖擊試樣夏比投影儀概述：　　XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器

詳細(xì)介紹

XT-50型沖擊試樣夏比投影儀

　　XT-50型沖擊試樣夏比投影儀概述：

　　XT-50型沖擊試樣投影儀是我公司根據(jù)廣大用戶的實(shí)際需要和GB/T299-1994《金屬夏比沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而開(kāi)發(fā)的一種專用于檢驗(yàn)夏比V型和U性型缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V型和U型缺口輪廓放大50倍后投射到投影屏上，與投影屏上的沖擊試樣V型和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖對(duì)比，以確定被檢測(cè)的試樣缺口是否合格。其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，對(duì)比直觀。

　功能特點(diǎn)及原理：

　　本投影儀光源發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物體，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射到投影屏上。
　　根據(jù)需要，本儀器為單一投射照明，光源通過(guò)一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過(guò)一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影儀上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方位一致。

　　規(guī)格技術(shù)參數(shù)：

　　投影屏直徑： 180mm

　　工作臺(tái)尺寸：

　　方工作臺(tái)尺寸： 110×125mm

　　圓工作臺(tái)直徑： 90mm

　　工作臺(tái)玻璃直徑： 70mm

　　工作臺(tái)行程：

　　縱向： ±10mm

　　橫向： ±10mm

　　升降： ±12mm（無(wú)刻度）

　　工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍： 0-360°（無(wú)刻度）

　　放大倍數(shù)：