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鍍膜檢測儀

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產(chǎn)品型號XUL-XYM,XULM-XYM

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廠商性質(zhì)代理商

所在地深圳市

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更新時間：2018-05-15 16:29:53瀏覽次數(shù)：1765次

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深圳金東霖科技有限公司

經(jīng)營模式：代理商

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所在地區(qū)：廣東深圳市

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產(chǎn)品簡介

一款不但能測量合金鍍層的厚度及成分比例，同時還可分析基材材質(zhì)的成分比例的進口鍍層分析儀，*的不需使用標準片做校正即可精確測量的儀器，德國原廠生產(chǎn)，多項技術，*的

從下到上的測量方式，滿足大部分的電鍍產(chǎn)品檢測需要。

詳細介紹

X熒光鍍膜檢測儀采用X射線熒光的工作原理是，X 射線管產(chǎn)生初級射線照射在受檢物質(zhì)時，會激發(fā)物質(zhì)放射X－射線螢光輻射，特定的元素有特定的輻射信號，接收器便會記錄這些能量光譜。不需要先對樣品進行處理便能測量，樣品可直接放入測量室進行測量。不需要復雜、昂貴的儀器來抽真空，便能在正常的環(huán)境下測量從元素Z＝13鋁到Z＝92（鈾），固定、漿狀及液體的樣本也可以測量，即使是極小不規(guī)則形狀的測量面積也可快速、免接觸的測量。只需短短數(shù)秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

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