產(chǎn)品名稱：高溫介電溫譜測試儀

產(chǎn)品型號：HCJD-803

產(chǎn)品簡介：

高溫介電溫譜測試儀是為了滿足材料在高溫環(huán)境下的介電性能測量需求而設(shè)計(jì)的。它由硬件設(shè)備和測量軟件組成，包括高溫介電測量儀主機(jī)、高溫介電測量系統(tǒng)軟件、高溫測試夾具、阻抗分析儀四個(gè)組成部分。根據(jù)測量需要，還可以外接真空油泵進(jìn)行真空環(huán)境的介電測量。高溫測試平臺是為樣品提供一個(gè)高溫環(huán)境；高溫測試夾具提供待測試樣品的測試平臺；阻抗分析儀則負(fù)責(zé)測試各組參數(shù)數(shù)據(jù)。后，再通過測量軟件將這些硬件設(shè)備的功能整合在一起，形成一套由實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)到溫度控制、參數(shù)測量、圖形數(shù)據(jù)顯示與數(shù)據(jù)分析于一體的高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。

系統(tǒng)介紹：

系統(tǒng)配置：Acer商用計(jì)算機(jī)，信號切換與控制系統(tǒng)，高溫儀及溫控系統(tǒng)，四通道夾具， 測試與數(shù)據(jù)采集軟件（軟件兼容同惠LCR表以及是德（安捷倫）E4980AL型LCR表和4294A型阻抗分析儀）；

輸入端口：四個(gè)BNC端口；

輸出端口：10個(gè)SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時(shí)）；

溫度范圍：室溫 至850℃（額定溫區(qū)，長時(shí)間使用溫度），室溫 至1000℃（極限溫區(qū)，短時(shí)間使用）；

系統(tǒng)屏蔽：通道切換主板預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì)，連接線材采用射頻同軸線，以保證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

測試夾具：融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針需使用氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu)，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端。以保證*高溫測試穩(wěn)定性；

同時(shí)測量樣品數(shù)：4個(gè)；

測試頻率范圍：20Hz至10 MHz(依據(jù)配套LCR表或阻抗分析儀頻率)，基本準(zhǔn)確度0.05%；

升溫速率：升溫速率0.1-10℃/min，測溫精度±0.1℃

測試樣品直徑：2 mm至25 mm；

樣品厚度：0.02 mm至4 mm；

單樣品測試頻率數(shù)：6個(gè)頻率測量功能；

變溫介電頻譜測試功能；

變溫阻抗測試功能。

技術(shù)特點(diǎn)：

1、公司自主研發(fā)有高溫介電測試夾具、高溫四探針夾具、高溫兩探針夾具，可與高溫測試平臺配套組成一套或多套高溫阻抗、介電測量系統(tǒng)。

2、溫度范圍從室溫至 600℃、800℃、1000℃、1200℃，具備精確的 PID 控制算法，控溫精度可到±1℃，確保溫度控制不超調(diào)。提供 7 種不同控溫方式，滿足客戶多種測試需求。

3、高溫介電測試夾具根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) ASTM D150 方法，采用平行板電極原理設(shè)計(jì)。電極由上電極、下電極以及保護(hù)電極組成。上下電極有良好的同心度和平行度，保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。

應(yīng)用領(lǐng)域

新型復(fù)合絕緣擦亮

高分子絕緣材料

無機(jī)絕緣材料

有機(jī)絕緣材料

其它絕緣材料等

技術(shù)參數(shù):

維護(hù)注意事項(xiàng)：

1、爐子長時(shí)間不用后，要在烘烤1小時(shí)后使用，以免損壞加熱元件及爐襯，保存爐內(nèi)的清潔。

2、溫區(qū)升溫速率不宜過快，有利于熱效應(yīng)力的均勻釋放，以延長使用壽命。

3、冷爐使用時(shí)，由于爐膛是冷的，須大量吸熱，所以低溫段升溫速率不宜過快，各溫度段的升溫速率差別不宜太大，設(shè)置升溫速率時(shí)應(yīng)充分考慮所燒結(jié)材料的物理化學(xué)性質(zhì)，以免出現(xiàn)噴料現(xiàn)象，污染爐管。

4、定期檢查溫度控制系統(tǒng)的電氣連接部分的接觸是否正常。

5、不得打開任何溫箱及電器控制設(shè)備。