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所 在 地東莞市
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更新時間：2024-10-17 13:13:35瀏覽次數(shù)：5次
聯(lián)系我時，請告知來自 制藥網(wǎng)簡述 使用新型光學元件，配合同軸線光源可對光滑表面進行凹凸檢測。光源上配有光柵元件，當檢測到凹凸點時，條紋的成像就會發(fā)生變形，此變形的位置即為凹凸點的位置。
原理：
使用新型光學元件，配合同軸線光源可對光滑表面進行凹凸檢測。光源上配有光柵元件，當檢測到凹凸點時，條紋的成像就會發(fā)生變形，此變形的位置即為凹凸點的位置。
產(chǎn)品特點：
1.透光性高, 均勻性好
2.設(shè)計配合同軸線光
3.特殊光學設(shè)計，成像效果良好
應用范圍：
4.光滑表面凹凸、劃傷、黑點等缺陷檢測
2.手機偏光膜曲面、凹凸點檢測
說明：對于光滑表面的凹凸點，通過判斷條紋的彎曲很容易找出缺陷位置，放大缺陷。線陣檢測面積大，可根據(jù)樣品的大小選擇相對大的光源來滿足視野的，均勻性相對面陣更有優(yōu)勢。
3.偏光膜輕微劃傷等缺陷檢測
說明：對于光滑表面的輕微劃傷點，常規(guī)的光源檢測很難看到缺陷，通過光柵同軸光源后，缺陷部分呈現(xiàn)出柵格雜亂，凸顯出缺陷，有利于機器視覺識別。
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