膜厚測(cè)試儀博曼（BA100）

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產(chǎn)品型號(hào)BA100

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更新時(shí)間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：2181次

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  膜厚測(cè)試儀

膜厚儀

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深圳市金東霖科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

膜厚測(cè)試儀博曼（BA100)是利用X射線(xiàn)熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

膜厚測(cè)試儀博曼（BA100)是利用X射線(xiàn)熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線(xiàn)源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線(xiàn)向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線(xiàn)熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

膜厚測(cè)試儀博曼（BA100)分析:
元素范圍：鋁13到鈾92。
x射線(xiàn)激發(fā)能量：50 W(50 kv和1 ma)鎢靶射線(xiàn)管
探測(cè)器：硅PIN檢測(cè)器250 ev的分辨率或更高的分辨率
測(cè)量的分析層和元素：5層(4層鍍層+基材)和10種元素在每個(gè)鍍層成分分析的同時(shí)多達(dá)25元素
過(guò)濾器/準(zhǔn)直器：4個(gè)初級(jí)濾波器,4個(gè)電動(dòng)準(zhǔn)直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
聚焦:多固定聚焦與激光系統(tǒng)
數(shù)字脈沖處理:4096 多通道數(shù)字分析器與自動(dòng)信號(hào)處理，包括X射線(xiàn)時(shí)間修正和防X射線(xiàn)積累
電腦:英特爾酷睿i5 3470處理器(3.2 ghz),8 gb DDR3內(nèi)存,微軟Windows 7專(zhuān)業(yè)64位等效
鏡頭:1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
電源:150 w、100 ~ 240伏,頻率范圍47赫茲到63赫茲
工作環(huán)境:50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,無(wú)冷凝水
重量:32公斤
內(nèi)部尺寸:高:140毫米(5.5”),寬:310毫米(12),深:210毫米(8.3”) 140*310mm
外形尺寸:高:450毫米(18英寸),寬:450毫米(18),深:600毫米(24) 450*450mm