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博曼x熒光膜厚儀

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產(chǎn)品型號(hào)BA100

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更新時(shí)間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：2664次

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膜厚儀

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博曼x熒光膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

博曼x熒光膜厚儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

博曼x熒光膜厚儀軟體說(shuō)明：
* 電腦操作系統(tǒng) XP系統(tǒng)
* 測(cè)量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號(hào)元素間的所有鍍層，
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測(cè)量層層次，zui多可以測(cè)量四層（加基材zui多五層）
* 儀器支持二種鍍層厚度計(jì)算方法
（1）、無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片的FP法（Fundamental Parameter）全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法。
FP法名詞解釋?zhuān)杭丛跊](méi)有標(biāo)準(zhǔn)塊的前提下，一樣能精確測(cè)量，此方式是通過(guò)儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過(guò)各無(wú)素能量信號(hào)的強(qiáng)弱或設(shè)定的各無(wú)素比例參數(shù)，以一種數(shù)學(xué)的方式直接計(jì)算鍍的厚度。因?yàn)樗恍枰獦?biāo)準(zhǔn)塊，因此它不受標(biāo)準(zhǔn)塊的限制，在沒(méi)有各種合金鍍層標(biāo)準(zhǔn)塊的情況下樣精確的測(cè)量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實(shí)現(xiàn)此種新型測(cè)試技術(shù)的膜厚測(cè)量品牌，此技術(shù)已使用了17年。
（2）、支持傳統(tǒng)的帶標(biāo)準(zhǔn)塊的檢量線法，即通過(guò)鍍層標(biāo)準(zhǔn)塊建立測(cè)試程式檔案測(cè)量相對(duì)應(yīng)的鍍層厚度。