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美國(guó)pcb板鍍層膜厚測(cè)試儀

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膜厚儀

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美國(guó)pcb板鍍層膜厚測(cè)試儀是利用X射線(xiàn)熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

美國(guó)pcb板鍍層膜厚測(cè)試儀是利用X射線(xiàn)熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線(xiàn)源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線(xiàn)向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線(xiàn)熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

美國(guó)pcb板鍍層膜厚測(cè)試儀簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)和X射線(xiàn)衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線(xiàn)衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線(xiàn)裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線(xiàn)衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線(xiàn)衍射裝置(XRD)為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線(xiàn)裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
膜厚儀也叫X射線(xiàn)測(cè)厚儀，它的原理是物質(zhì)經(jīng)X射線(xiàn)或粒子射線(xiàn)照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來(lái)，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來(lái)。熒光X射線(xiàn)鍍層厚度測(cè)量?jī)x或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來(lái)的熒光的能量及強(qiáng)度，來(lái)進(jìn)行定性和定量分析。

關(guān)鍵詞：測(cè)厚儀