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鍍金電鍍膜厚測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)BA100

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更新時(shí)間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：1858次

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膜厚儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

鍍金電鍍膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

鍍金電鍍膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

鍍金電鍍膜厚測(cè)試儀可測(cè)元素范圍：鋁(AL) –鈾(U)。
可測(cè)量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μm。
自動(dòng)測(cè)量功能：編程測(cè)量，自定測(cè)量修正，測(cè)量功能。
底材修正：已知樣品修正。
定性分析功能：光譜表示，光譜比較。
定量分析功能：合金成份，分析數(shù)據(jù)。