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bowman線路板X-RAY膜厚測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)BA100

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更新時(shí)間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：2857次

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膜厚儀

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深圳市金東霖科技有限公司

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

bowman線路板X-RAY膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

bowman線路板X-RAY膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

bowman線路板X-RAY膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
可檢測(cè)元素范圍：AL13 – U92.可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正.結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。
電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。
探測(cè)器分辨率*，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。
有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。
您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇zui合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。
一旦識(shí)別出問(wèn)題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。
大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。