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半導(dǎo)體鍍金膜厚儀美國

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產(chǎn)品型號BA100

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更新時間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：3146次

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膜厚儀

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深圳市金東霖科技有限公司

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產(chǎn)品簡介

半導(dǎo)體鍍金膜厚儀美國是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

半導(dǎo)體鍍金膜厚儀美國是利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
采用新改進的基本參數(shù)法，無論是無標(biāo)準(zhǔn)片測量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測量結(jié)果。為了簡化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測量技術(shù)。
可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。

半導(dǎo)體鍍金膜厚儀*指標(biāo)：
★ 元素分析范圍：從AL到U
★ 一次性可同時分析多層鍍層
★ 分析厚度檢測出限zui高達0.01um
★ 同時可分析多達5層以上鍍層
★ 相互獨立的基體效應(yīng)校正模型，厚度分析方法
★ 多次測量重復(fù)性zui高可達0.01um
★ *工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
★ 溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃
★ 輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）