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美國(guó)膜厚測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)BA100

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更新時(shí)間：2018-05-15 16:16:02瀏覽次數(shù)：2519次

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膜厚儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

美國(guó)膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。

詳細(xì)介紹

美國(guó)膜厚測(cè)試儀是利用X射線熒光（XRF）進(jìn)行鍍層厚度測(cè)量和材料分析，提高過(guò)程和質(zhì)量控制。
采用新改進(jìn)的基本參數(shù)法，無(wú)論是無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量還是有標(biāo)準(zhǔn)片測(cè)量，都能快速并且準(zhǔn)確的獲得測(cè)量結(jié)果。為了簡(jiǎn)化樣品放置，X射線源和數(shù)字半導(dǎo)體接收器置于了 BA100 的底部，從而可以采用射線向上的測(cè)量技術(shù)。
可以勝任測(cè)量傳統(tǒng)的鍍層厚度測(cè)量?jī)x器由于X-射線熒光強(qiáng)度不夠而無(wú)法測(cè)量到的結(jié)構(gòu)。

美國(guó)膜厚測(cè)試儀性能特點(diǎn)
+ 高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到*水平。
+ 的數(shù)字多道技術(shù)，讓測(cè)試更快，計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS，精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好。
+ SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比。
+ 產(chǎn)品—信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上。
+ 低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好。
+ 智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍。
+ 自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性。
+ 高信噪比的電子線路單元。
+ 針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來(lái)的繁瑣。
+ 解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度。
+ 多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制。
+ 內(nèi)置高清晰攝像頭。
+ 液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然。