一、光電耦合器pct老化試驗箱( 樊S)符合標準概要：

　　高壓加速老化試驗箱符合標準zui主要是測半導體主要的作用就是測試半導體的封裝濕氣的能力,它的有著非常精確的測試能力,非?？?并且他的全程自動可以使得在測試過程中更加的方便快捷測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度,濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,在常見的故障方式是主動的金屬花區(qū)域所造成的腐蝕或者是短路,或者是封裝體在因腳間因為污染造成的短路,廣泛應用與線路板多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力與工作應力,加快試驗過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。,

　　二、主要參數(shù):

　　a.溫度范圍:+100℃～+132℃.

　　b.溫度波動度:±0.5℃.

　　c.溫度均勻度:±1.5℃.

　　d.濕度范圍:*R.H飽和蒸氣.

　　e.濕度波動度:±1.5%R.H.

　　f.濕度均勻度:±3.0%R.H.

　　g.壓力范圍：+0～2.0./2.5/3.0/3.5/4.0kg/cm2.(供選擇)

　　h.循環(huán)方式:水蒸氣自然對流循環(huán).

　　i.測時間設置：0～999Hr.

　　j.加壓時間：0.00kg/cm2～2.00kg/cm2約45分鐘.

　　k.光電耦合器pct老化試驗箱滿足：在溫度110度、濕度90%，壓力2個大氣壓，或者溫度120度、濕度95%、壓力1.2個大氣壓時可有效測試.

　　j.升溫時間:由100℃升至+132℃約10分鐘非線性空載.

　　m.溫度變化速率為空氣溫度平均變化速率,而非產(chǎn)品溫度變化速率.

　　三、高溫結(jié)構(gòu):

　　1.圓型內(nèi)箱，不銹鋼圓型試驗內(nèi)箱結(jié)構(gòu)，符合工業(yè)安全容器標準，可防止試驗中露滴水設計。

　　2.圓幅內(nèi)襯，不銹鋼圓幅型內(nèi)襯設計，可避免蒸氣潛熱直接沖擊試品;

　　3.精密設計，氣密性良好，耗水量少，每次加水可連續(xù)200h;

　　4.自動門禁，圓型門自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制，安全門把設計，內(nèi)有大于常壓時測試們會被反壓保護;

　　5.型packing，箱內(nèi)壓力愈大時，packing會有反壓會使其與箱體更緊密結(jié)合，與傳統(tǒng)擠壓式*不同，可延長packing壽命。

　　6.實驗開始前之真空動作可將原來箱內(nèi)之空氣抽出并吸入過濾蕊過濾之新空氣(partical<1micorn)。以確保箱內(nèi)之純凈度;

　　7.臨界點LIMIT方式自動安全保護，異常原因與故障指示燈顯示。

　　符合標準儀器特點：

　　1,實驗過程不需要任何的操作,全程都是自動的,方便快捷。

　　2,有著好的三重壓力安全保護裝置,采用控制器內(nèi)部兩段式超溫保護機械式壓力安全保護裝置。

　　3,有著手動安全保護排壓伐,警急安全裝置兩段式自動排壓伐,有了安全裝置,在操作過程中,可以減少不必要的損失。

　　4,符合標準內(nèi)有著非常好的雙重過熱保護裝置：當鍋內(nèi)溫度過高時,機器鳴叫警報并自動切斷加熱電源,減少損失,使得機體的壽命大大的增加。

　　5,采用了的溫度控制器,相比以前這款LED數(shù)字型溫度控制器能夠更加的精確試驗溫度設定,有著PID的控制能夠把誤差縮小到±0.1℃。

　　6,好的LED數(shù)字型定時器,當鍋內(nèi)溫度到達后才開始計時以確保試驗*。

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