 |
蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司
主營產(chǎn)品： 光學(xué)檢測設(shè)備、應(yīng)力儀、表面應(yīng)力儀、干涉儀 |
|
蘇州精創(chuàng)光學(xué)儀器有限公司
主營產(chǎn)品： 光學(xué)檢測設(shè)備、應(yīng)力儀、表面應(yīng)力儀、干涉儀 |
| 參考價 | 面議 |
| 產(chǎn)地 | 進口 | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
|---|
玻璃、塑料退火定量應(yīng)力檢測儀WPA-100
WPA-View通過簡單的點擊，就可以判定出應(yīng)力的分布狀況
應(yīng)力圖像的分布
應(yīng)力豎軸方向等大范圍內(nèi)的應(yīng)力分布，可以通過圖像來保存
應(yīng)力的表格顯示
任意兩點之間的雙折射的圖像分布，可以通過表格形式進行保存
范圍分析
任意四角或者圓形區(qū)域內(nèi)的應(yīng)力分布直方圖，可以進行顯示并保存。
3次元表格顯示
通過立體圖像顯示，讓圖像更直觀具體。
測定原理
光通過具有雙折射的透明物體時，偏光狀態(tài)會發(fā)生改變（光彈性原理）。相反，通過光透過物體前后偏光狀態(tài)的比較，可以對物體的雙折射進行分析。
利用photonic結(jié)晶和薄膜組成的偏光檢測儀器可以捕捉到偏光信息。加之利用了的計算、圖像處理軟件，讓應(yīng)力分布狀況能定量化、數(shù)據(jù)化和可視化。
裝置的參數(shù)
| WPA-200 | WPA-200-L |
●測定 |
| |
測定范圍 | 0-3000nm | |
視野范圍 | 24*32mm～100*133mm | 33*44mm～240*320mm |
反復(fù)測量精度 | 1nm以下 | |
●裝置 |
| |
偏光圖像像素 | 384*288（≈11萬）pixels | |
測定波長 | 523nm.543nm.575nm | |
●包裝 |
| |
尺寸 | 270*340*560mm | 430*490*910mm |
重量 | 13kg | 23kg |
●其他 |
| |
界面 | GigE(相機信號) | |
電源、電流 | AC100-240V 50/60Hz /~5.0A | |
軟件 | WPA-View | |
其他附件 | 筆記本電腦、標(biāo)準鏡片、使用說明書 | |
●可能會定期對參數(shù)進行改善
●本裝置所測定的結(jié)果是通過光程差（nm單位）和主軸方向來表示的
玻璃、塑料退火定量應(yīng)力檢測儀WPA-100
WPA-View通過簡單的點擊，就可以判定出應(yīng)力的分布狀況
應(yīng)力圖像的分布
應(yīng)力豎軸方向等大范圍內(nèi)的應(yīng)力分布，可以通過圖像來保存
應(yīng)力的表格顯示
任意兩點之間的雙折射的圖像分布，可以通過表格形式進行保存
范圍分析
任意四角或者圓形區(qū)域內(nèi)的應(yīng)力分布直方圖，可以進行顯示并保存。
3次元表格顯示
通過立體圖像顯示，讓圖像更直觀具體。
測定原理
光通過具有雙折射的透明物體時，偏光狀態(tài)會發(fā)生改變（光彈性原理）。相反，通過光透過物體前后偏光狀態(tài)的比較，可以對物體的雙折射進行分析。
利用photonic結(jié)晶和薄膜組成的偏光檢測儀器可以捕捉到偏光信息。加之利用了的計算、圖像處理軟件，讓應(yīng)力分布狀況能定量化、數(shù)據(jù)化和可視化。
裝置的參數(shù)
| WPA-200 | WPA-200-L |
●測定 |
| |
測定范圍 | 0-3000nm | |
視野范圍 | 24*32mm～100*133mm | 33*44mm～240*320mm |
反復(fù)測量精度 | 1nm以下 | |
●裝置 |
| |
偏光圖像像素 | 384*288（≈11萬）pixels | |
測定波長 | 523nm.543nm.575nm | |
●包裝 |
| |
尺寸 | 270*340*560mm | 430*490*910mm |
重量 | 13kg | 23kg |
●其他 |
| |
界面 | GigE(相機信號) | |
電源、電流 | AC100-240V 50/60Hz /~5.0A | |
軟件 | WPA-View | |
其他附件 | 筆記本電腦、標(biāo)準鏡片、使用說明書 | |
●可能會定期對參數(shù)進行改善
●本裝置所測定的結(jié)果是通過光程差（nm單位）和主軸方向來表示的
