詳細介紹
溫度檢測
檢測電芯溫度的主要原因是確保電池不會達到熱逸潰。YTE102A YT213001-BA可能造成熱逸潰的情況有電芯過充、對電池組短路或電芯本身內(nèi)部短路。有些化學(xué)電池相對容易受熱逸潰的影響。
除了熱逸潰檢測以外,實踐中還使用熱檢測來確定電池充電或放電是否安全。如圖6所示,大多數(shù)鋰電池都提供建議的充電/放電溫度范圍。在筆記本電腦等應(yīng)用中,可能需要在圖6中的僅允許放電溫度區(qū)內(nèi)充電。JEITA是一種鋰電池充電標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)提倡在電芯不大穩(wěn)定或不大能夠接受電荷的溫度區(qū)減小充電電流。圖7是JEITA充電標(biāo)準(zhǔn)的一個例子。對于大多數(shù)應(yīng)用,圖6的曲線已足以滿足要求,并且易于實現(xiàn)。
YTE102A YT213001-BA
YTE102B YT213001-BB
YTE102C YT213001-BC
YTEA250-15 YT212001-AF
YTEA250-8 YT212001-AE
DSQC358C 3HAB8101-10
DSQC358E 3HAB8101-12
DSQC358G 3HAB8101-16
DSQC358F 3HAB8101-15
對于獨立的BMS IC,理解其功能塊和功率FET在工作區(qū)域的執(zhí)行活動很重要。有些IC允許在充電FET(CFET)和放電FET(DFET)同時都處于導(dǎo)通狀態(tài)時充電。其他IC則關(guān)斷CFET。當(dāng)在電芯溫度曲線僅允許放電區(qū)工作時,CFET在串聯(lián)功率FET配置中絕不能關(guān)斷。在CFET關(guān)斷時運行負載允許電流穿過CFET的體二極管。這會增加FET的功率耗散,導(dǎo)致FET溫度上升。如果不采取措施消除由FET產(chǎn)生的熱量,比如通過電路布局或使用散熱器,則元件可能受損。在串聯(lián)配置下工作時CFET關(guān)斷還可減小會影響應(yīng)用性能的負載功耗。
DSQC236A YB560103-CA
DSQC236C YB560103-CC
DSQC236D 3HAB2207-1
DSQC236G YB560103-CD
DSQC236H 3HAB2245-1
DSQC236P 3HAA3563-AJA
DSQC236T YB560103-CE
DSQC266B 3HAB8797-1
DSQC266C 3HAB8798-1
DSQC266G 3HAB8801-1
DSQC266H 3HAB8800-1
DSQC266K 3HAB8799-1
DSQC266T 3HAB8802-1
DSQC346A 3HAB8101-5
DSQC346B 3HAB8101-6
DSQC346C 3HAB8101-7
DSQC346E 3HAB8101-11
DSQC346G 3HAB8101-8
DSQC346U 3HAB8101-13
DSQC546A 3HAB8101-18
YTE102B YT213001-BB
YTE102C YT213001-BC
YTEA250-15 YT212001-AF
YTEA250-8 YT212001-AE
DSQC358C 3HAB8101-10
DSQC358E 3HAB8101-12
DSQC358G 3HAB8101-16
DSQC358F 3HAB8101-15