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    開路電芯事件是指電芯內(nèi)部開路或者外部連接損壞。A20B-0008-0371事件的發(fā)生可能是緩慢的，也有可能是突然的。造成開路電芯事件的可能原因有老化、電芯制造質(zhì)量差和長時間在惡劣環(huán)境中工作。外部連接損壞一般是由于電池組結(jié)構(gòu)差而導(dǎo)致。

　　電池組在連接至負(fù)載時會產(chǎn)生大量涌入電流，這時可能出現(xiàn)zui大電芯壓差的誤報。因?yàn)殡娦咀杩故涠对龅挠咳腚娏鲿?dǎo)致電芯電壓的嚴(yán)重失配。有些芯片在報告事件時有延遲，有些芯片則沒有。

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電流檢測

　　用于測量電流的大多數(shù)電池系統(tǒng)都有三個電流比較器：放電短路(DSC)、放電過流(DOC)和充電過流(COC)。每個比較器都產(chǎn)生一個延遲，從而允許電流在一段時間內(nèi)大于限值，隨后再采取行動。

　　與充電器相比，負(fù)載受到的控制較少，所以需要進(jìn)行快速電流放電檢測，以便關(guān)斷功率FET，防止損壞電池或功率FET本身。DSC事件發(fā)生時，功率FET常常延遲幾十至幾百毫秒才關(guān)斷。DSC延遲由定時延遲和功率FET關(guān)斷所需的時間組成。功率FET在柵極和源極通過隔離電阻器連接起來時處于關(guān)斷狀態(tài)。電阻器和柵電容構(gòu)成RC電路，決定FET的關(guān)斷時間。

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