A20B-0008-0461

小張工、 ：【】 隨著單片機(jī)系統(tǒng)越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于消費(fèi)類電子、醫(yī)療、工業(yè)自動(dòng)化、智能化儀器儀表、航空航天等各領(lǐng)域，單片機(jī)系統(tǒng)面臨著電磁干擾（EMI）日益嚴(yán)重的威脅。電磁兼容性（EMC）包含系統(tǒng)的發(fā)射和敏感度兩方面的問(wèn)題。A20B-0008-0461

   對(duì)于獨(dú)立的BMS IC，理解其功能塊和功率FET在工作區(qū)域的執(zhí)行活動(dòng)很重要。有些IC允許在充電FET(CFET)和放電FET(DFET)同時(shí)都處于導(dǎo)通狀態(tài)時(shí)充電。其他IC則關(guān)斷CFET。當(dāng)在電芯溫度曲線僅允許放電區(qū)工作時(shí)，CFET在串聯(lián)功率FET配置中絕不能關(guān)斷。在CFET關(guān)斷時(shí)，運(yùn)行負(fù)載允許電流穿過(guò)CFET的體二極管，這會(huì)增加FET的功率耗散，導(dǎo)致FET溫度上升。如果不采取措施消除由FET產(chǎn)生的熱量，比如通過(guò)電路布局或使用散熱器，則元件可能受損。在串聯(lián)配置下工作時(shí)，CFET關(guān)斷還可減小會(huì)影響應(yīng)用性能的負(fù)載功耗。

A20B-0008-0430
A20B-0008-0440
A20B-0008-0451
A20B-0008-0460
A20B-0008-0461
A20B-0008-0470
A20B-0008-0471

    除了熱逸潰檢測(cè)以外，A20B-0008-0461實(shí)踐中還使用熱檢測(cè)來(lái)確定電池充電或放電是否安全。如圖6所示，大多數(shù)鋰電池都提供建議的充電/放電溫度范圍。在筆記本電腦等應(yīng)用中，可能需要在圖6中的僅允許放電溫度區(qū)內(nèi)充電。JEITA是一種鋰電池充電標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)提倡在電芯不大穩(wěn)定或不大能夠接受電荷的溫度區(qū)減小充電電流，圖7是JEITA充電標(biāo)準(zhǔn)的一個(gè)例子。對(duì)于大多數(shù)應(yīng)用，圖6的曲線已足以滿足要求，并且易于實(shí)現(xiàn)。

A20B-0007-0445

A20B-0007-0449

A20B-0008-0243
A20B-0008-0033
A20B-0008-0270
A20B-0008-0280
A20B-0008-0370
A20B-0008-0371
A20B-0008-0410

A20B-0008-0430
A20B-0008-0440
A20B-0008-0451
A20B-0008-0230
A20B-0008-0460

A20B-0008-0470
A20B-0008-0471

A20B-0008-0480
A20B-0008-0490
A20B-0008-0500
A20B-0008-0540
A20B-0008-0032
A20B-0008-0541
A20B-0008-0630
A20B-0008-0640