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詳細(xì)介紹
我公司視“打造國(guó)產(chǎn)穩(wěn)定的激光粒度儀器”為己任，以科技創(chuàng)品牌、質(zhì)量闖市場(chǎng)、信譽(yù)贏天下為方針，全力打造超穩(wěn)定、高性?xún)r(jià)比的國(guó)產(chǎn)激光粒度儀器。D2000自上市以來(lái)贏得了廣大客戶的*。
LAP-D2000屬于干法全自動(dòng)激光粒度儀，被廣泛應(yīng)用到粉體行業(yè)，我公司針對(duì)不同行業(yè)設(shè)計(jì)了不同模板，客戶可根據(jù)自己需要選擇水泥模版、磨料模版等等。
智能型干粉激光粒度分析儀控制系統(tǒng)原理圖
LAP-D2000激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：
的光路設(shè)計(jì)：LAP-D2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力。*的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)及電腦操作系統(tǒng)彰顯出LAP-D2000人性化設(shè)計(jì)。
高穩(wěn)定光路優(yōu)化：*的設(shè)計(jì)讓LAP-D2000擁有了的高穩(wěn)定光路，它采用了高穩(wěn)定、大功率光纖輸出激光器，優(yōu)良的配置使LAP-D2000擁有了*的穩(wěn)定性；主要光路采取了全封閉設(shè)計(jì)，保證了儀器在復(fù)雜環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試。
*的干法分散系統(tǒng)：D2000分散系統(tǒng)在法國(guó)理論數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，使LAP-D2000對(duì)干粉的分散更加均勻，*的負(fù)壓保證了進(jìn)料的連續(xù)性及均勻性，有效避免測(cè)試過(guò)程中干粉的相互粘連。
探測(cè)器：LAP-D2000探測(cè)器采用了主探測(cè)器與副探測(cè)器結(jié)合的全新設(shè)計(jì)，保證了儀器全量程內(nèi)無(wú)縫探測(cè)，使測(cè)試更加準(zhǔn)確。主探測(cè)器設(shè)計(jì)了自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)儀器的一鍵自動(dòng)對(duì)中，彰顯人性化設(shè)計(jì)。同時(shí)有效避免手動(dòng)對(duì)中對(duì)探測(cè)器的損害，有效延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。
防塵、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾，使結(jié)果測(cè)試更穩(wěn)定可靠。
光路自動(dòng)校對(duì)：光路微變，儀器可以自行對(duì)光路進(jìn)行調(diào)節(jié)，避免手動(dòng)調(diào)節(jié)時(shí)損壞探測(cè)器。
管道無(wú)殘留：測(cè)試完成后管道內(nèi)無(wú)殘留樣品，不會(huì)對(duì)下次測(cè)試造成干擾。
計(jì)算機(jī)控制喂料：測(cè)試人員可借助計(jì)算機(jī)精準(zhǔn)控制儀器進(jìn)料量。
軟件：符合藥典GMP規(guī)定，具有電子簽名、權(quán)限設(shè)置、數(shù)據(jù)追蹤、數(shù)據(jù)不可更改等功能。
對(duì)于制藥行業(yè)客戶，可以提供3Q認(rèn)證。
測(cè)試界面
光路自動(dòng)對(duì)能圖
主要技術(shù)參數(shù)：
測(cè)試報(bào)告：
LAP-D2000屬于干法全自動(dòng)激光粒度儀，被廣泛應(yīng)用到粉體行業(yè)，我公司針對(duì)不同行業(yè)設(shè)計(jì)了不同模板，客戶可根據(jù)自己需要選擇水泥模版、磨料模版等等。
智能型干粉激光粒度分析儀控制系統(tǒng)原理圖
LAP-D2000激光粒度分析儀主要性能特點(diǎn)：
的光路設(shè)計(jì)：LAP-D2000采用會(huì)聚光傅立葉變換測(cè)試技術(shù)保證在較短的焦距獲得較大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的小探頭排布，讓D2000擁有了*的小顆粒測(cè)試能力。*的自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)及電腦操作系統(tǒng)彰顯出LAP-D2000人性化設(shè)計(jì)。
高穩(wěn)定光路優(yōu)化：*的設(shè)計(jì)讓LAP-D2000擁有了的高穩(wěn)定光路，它采用了高穩(wěn)定、大功率光纖輸出激光器，優(yōu)良的配置使LAP-D2000擁有了*的穩(wěn)定性；主要光路采取了全封閉設(shè)計(jì)，保證了儀器在復(fù)雜環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試。
*的干法分散系統(tǒng)：D2000分散系統(tǒng)在法國(guó)理論數(shù)據(jù)的基礎(chǔ)上進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì)，使LAP-D2000對(duì)干粉的分散更加均勻，*的負(fù)壓保證了進(jìn)料的連續(xù)性及均勻性，有效避免測(cè)試過(guò)程中干粉的相互粘連。
探測(cè)器：LAP-D2000探測(cè)器采用了主探測(cè)器與副探測(cè)器結(jié)合的全新設(shè)計(jì)，保證了儀器全量程內(nèi)無(wú)縫探測(cè)，使測(cè)試更加準(zhǔn)確。主探測(cè)器設(shè)計(jì)了自動(dòng)對(duì)中系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn)儀器的一鍵自動(dòng)對(duì)中，彰顯人性化設(shè)計(jì)。同時(shí)有效避免手動(dòng)對(duì)中對(duì)探測(cè)器的損害，有效延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。
防塵、防震設(shè)計(jì)：儀器整體進(jìn)行了密封設(shè)計(jì)，大幅提高了內(nèi)部元器件使用壽命。*的懸浮式結(jié)構(gòu)能有效避免外界震動(dòng)對(duì)儀器的干擾，使結(jié)果測(cè)試更穩(wěn)定可靠。
光路自動(dòng)校對(duì)：光路微變，儀器可以自行對(duì)光路進(jìn)行調(diào)節(jié)，避免手動(dòng)調(diào)節(jié)時(shí)損壞探測(cè)器。
管道無(wú)殘留：測(cè)試完成后管道內(nèi)無(wú)殘留樣品，不會(huì)對(duì)下次測(cè)試造成干擾。
計(jì)算機(jī)控制喂料：測(cè)試人員可借助計(jì)算機(jī)精準(zhǔn)控制儀器進(jìn)料量。
軟件：符合藥典GMP規(guī)定，具有電子簽名、權(quán)限設(shè)置、數(shù)據(jù)追蹤、數(shù)據(jù)不可更改等功能。
對(duì)于制藥行業(yè)客戶，可以提供3Q認(rèn)證。
測(cè)試界面
光路自動(dòng)對(duì)能圖
主要技術(shù)參數(shù)：
| 規(guī)格型號(hào) | LAP-D2000 |
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008 |
| 測(cè)試范圍 | 0.1μm -2000μm |
| 探測(cè)器通道數(shù) | 109 |
| 準(zhǔn)確性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
| 重復(fù)性誤差 | <1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
| 喂料方式 | 機(jī)械無(wú)級(jí)調(diào)速振動(dòng)喂料，軟件控制 |
| 無(wú)油*空壓機(jī) | 具有粉塵過(guò)濾功能，保證測(cè)試準(zhǔn)確性 |
| 冷干機(jī) | 冷凍式干燥機(jī)可過(guò)濾空氣中的水分，保證分散效果 |
| 誤操作保護(hù) | 儀器具備誤操作自我保護(hù)功能，儀器對(duì)誤操作不響應(yīng) |
| 激光器參數(shù) | 進(jìn)口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm, p>10mW |
| 鏡頭 | 進(jìn)口佳能鏡頭 |
| 分散方法 | 高壓空氣分散 |
| 智能操作模式 | 軟件智能全自動(dòng)控制操作 |
| 光路對(duì)中 | 光路自動(dòng)校對(duì) |
| 測(cè)試速度 | <1min/次（不含樣品分散時(shí)間） |
| 體積 | 980mm*410mm*450mm |
| 重量 | 35Kg |
| 軟件功能 | |
| 測(cè)試報(bào)告 | 測(cè)試報(bào)告可導(dǎo)出Word、Excel、圖片（Bmp）和文本（Text）等多種形式的文檔，滿足在任何場(chǎng)合下查看測(cè)試報(bào)告以及科研文章中引用測(cè)試結(jié)果 |
| 自行DIY | 用戶自定義要顯示的數(shù)據(jù)，根據(jù)粒徑求百分比、根據(jù)百分比求粒徑或根據(jù) |
| 統(tǒng)計(jì)方式 | 體積分布和數(shù)量分布，以滿足不同行業(yè)對(duì)于粒度分布的不同統(tǒng)計(jì)方式 |
| 統(tǒng)計(jì)比較 | 可針對(duì)多條測(cè)試結(jié)果進(jìn)行統(tǒng)計(jì)比較分析，可明顯對(duì)比不同批次樣品、加工前后樣品以及不同時(shí)間測(cè)試結(jié)果的差異，對(duì)工業(yè)原料質(zhì)量控制具有很強(qiáng)的實(shí)際意義 |
| 分析模式 | 包括自由分布、R-R分布和對(duì)數(shù)正態(tài)分布、按目分級(jí)統(tǒng)計(jì)模式等，滿足不同行業(yè)對(duì)被測(cè)樣品粒度統(tǒng)計(jì)方式的不同要求 |
| 顯示模板 | 粒徑區(qū)間求百分比，以滿足不同行業(yè)對(duì)粒度測(cè)試的表征方式。徑距、一致性、區(qū)間累積等等 |
| 智能操作模式 | 真正全自動(dòng)無(wú)人干預(yù)操作，無(wú)人為因素干擾，您只需按提示加入待測(cè)樣品即可，測(cè)試結(jié)果的重復(fù)性更好。 |
| 多語(yǔ)言支持 | 中英文語(yǔ)言界面支持，還可根據(jù)用戶要求嵌入其他語(yǔ)言界面。 |
測(cè)試報(bào)告：
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