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X射線衍射儀的工作環(huán)境你了解多少？
X射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測定等。并且，可通過峰面積計算進(jìn)行定量分析。X射線衍射儀被廣泛地使用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油化工、醫(yī)藥、材料、水泥、刑偵、環(huán)境、考古、海關(guān)等領(lǐng)域，主要為晶體物質(zhì)提供物相分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、晶胞參數(shù)分析、應(yīng)力分析等。
X射線衍射儀采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動識別所有光學(xué)組件、樣品臺、智能的測量分析軟件SmartLab Guidance，一臺儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測試。
X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問題
?。?）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。
?。?）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。
（4）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。
?。?）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
X射線衍射儀的工作環(huán)境：
1．建議房間溫度：15°C至25°C，溫度變化小于1?C/30分鐘
2．高分辨儀器的房間溫度：22°C±1°C
3．相對濕度：20%至80%
4．環(huán)境整潔：請定期清潔儀器內(nèi)部以免灰塵聚集在某些重要部件的表面上，影響儀器的正常工作。如測角儀光學(xué)編碼盤。
5．其它環(huán)境條件：--振動--磁場
X射線衍射儀主要應(yīng)用于樣品的物相定性或定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料的結(jié)構(gòu)宏觀應(yīng)力的測定、 晶粒大小測定、結(jié)晶度測定等，根據(jù)實際需要可以安裝各種特殊功能的附件及相應(yīng)控制和計算機(jī)軟件，組成具有特殊功能的衍射儀。