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X射線衍射儀技術(shù)可為客戶解決哪些問題
X射線衍射儀是利用衍射原理，精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)，織構(gòu)及應(yīng)力，精確的進行物相分析，定性分析，定量分析。廣泛應(yīng)用于冶金，石油，化工，科研，航空航天，教學(xué)，材料生產(chǎn)等領(lǐng)域。
X射線衍射儀能夠精確地對金屬和非金屬樣品進行定性分析、定量及晶體結(jié)構(gòu)分析，還可以分析天然或是人工合成的無機或是有機材料。在材料學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、聚合物、冶金、礦物、催化劑、水泥、制藥、塑料、陶瓷、考古、商檢等眾多學(xué)科和行業(yè)中都有廣泛應(yīng)用，是理工科院校和材料研究、生產(chǎn)和科研機構(gòu)、廠礦等單位*的大型分析設(shè)備。
X射線衍射儀技術(shù)（XRD）可為客戶解決的問題：
（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結(jié)晶相的比例。
?。?）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析，確定材料的結(jié)晶程度。
（3）新材料開發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù)，使用XRD可快捷測試出點陣參數(shù)，為新材料開發(fā)應(yīng)用提供性能驗證指標(biāo)。
?。?）產(chǎn)品在使用過程中出現(xiàn)斷裂、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀應(yīng)力。
?。?）納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。
X射線衍射分析方法可實現(xiàn)無損的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰強度,衍射峰線形等信息可以進行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征,如:點陣常數(shù)的精細測定,晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計算,宏觀殘余應(yīng)力測定,結(jié)晶度計算等;X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征更常規(guī)和更有效的方法之一。