軟袋真空衰減法密封測(cè)試儀

軟袋真空衰減法密封測(cè)試儀VeriPac D系列是通用的無損包裝檢測(cè)系統(tǒng)特別適用于軟袋和軟包裝，VeriPac檢測(cè)系統(tǒng)提供定性結(jié)果(通過或失敗)和與泄漏率和泄漏尺寸相關(guān)的定量數(shù)據(jù)。為了適應(yīng)各種包裝規(guī)格和測(cè)試靈敏度要求，VeriPac D系列有多種配置包括檢漏儀器和測(cè)試腔體容量。

軟袋真空衰減法密封測(cè)試儀VeriPac D系列使用ASTM標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可的無損技術(shù)的真空衰減檢漏方法(F2338)，該方法被FDA認(rèn)可為*的包裝完整性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。這個(gè)測(cè)試方法的開發(fā)采用VeriPac 檢漏儀器。

VeriPac D系列檢測(cè)系統(tǒng)是破壞性測(cè)試的實(shí)用替代技術(shù)，因?yàn)樗麄兣懦酥饔^的測(cè)試結(jié)果、以及與這些方法有關(guān)的浪費(fèi)和費(fèi)用支出。真空衰減檢漏技術(shù)已經(jīng)被證實(shí)可以提供快速的投資回報(bào)當(dāng)與破壞性方法比較時(shí)，如水浴測(cè)試法。VeriPac D系列測(cè)試儀也解決了發(fā)現(xiàn)關(guān)鍵缺陷的問題，這些缺陷會(huì)影響產(chǎn)品質(zhì)量和貨架期。因?yàn)閂eriPac測(cè)試循環(huán)很短、測(cè)試是無損的，可以增加測(cè)試樣品數(shù)量和測(cè)試頻率。

優(yōu)點(diǎn)：

●無損的、非主觀的、無需樣品制備

●確定的、定量的測(cè)試方法

●在單個(gè)測(cè)試循環(huán)中測(cè)試多個(gè)包裝

●劃算的、快速投資回報(bào)

●支持可持續(xù)包裝和零浪費(fèi)行動(dòng)

●簡(jiǎn)化檢測(cè)和驗(yàn)證工藝

●ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)

●準(zhǔn)確和可重復(fù)的結(jié)果

 真空衰減法檢漏儀由主機(jī)和測(cè)試腔體組成，將待測(cè)包裝容器放入測(cè)試腔體，對(duì)測(cè)試腔體抽真空，容器內(nèi)外壓差使得容器內(nèi)氣體通過漏孔進(jìn)入測(cè)試腔體，儀器內(nèi)的絕壓傳感器和差壓傳感器監(jiān)測(cè)到絕壓阿和差壓的變化，將該壓力值和參考?jí)毫χ底霰容^，以判定包裝容器是否泄漏。通過微型流量計(jì)建立壓力和漏孔之間的關(guān)系，從而可以獲得包裝容器的漏孔大小。

真空衰減法檢漏儀具有廣泛的適用性
 
1、可以測(cè)氣漏，也可以測(cè)液漏
 
2、可以測(cè)負(fù)壓容器，也可以測(cè)常壓容器
 
3、軟包裝和硬包裝均可
 
4、包裝內(nèi)部液體導(dǎo)電或不導(dǎo)電均可檢測(cè)
 
5、大小頂空或零頂空均可測(cè)試真空衰減法不適用于含顆粒物的懸濁液或乳狀液，因顆粒物會(huì)堵塞漏孔，導(dǎo)致無法檢出。另外，真空衰減法也不適用于微頂空高粘度的液體如糖漿的檢測(cè)，因高粘度物質(zhì)會(huì)堵塞漏孔，導(dǎo)致無法檢出。