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詳細(xì)介紹
| 單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)探頭支架，用于厚度達(dá)150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。 |
這一探頭支架適于固定直徑達(dá)6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設(shè)備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調(diào)節(jié)高度可達(dá)63.5mm。
反射臺(tái)是電鍍臺(tái)面，表面刻有同心圓以確定直徑，用于放置圓形樣品。
規(guī)格
| 尺寸（基座）: | 直徑為152.4mm |
| 尺寸（樣品區(qū)）: | 直徑為101.6mm* |
| 重量: | 620 g |
| 高度: | 垂直可調(diào)高度63.5mm |
*指帶有同心圓刻度的區(qū)域，用戶也可利用整個(gè)基座的區(qū)域。
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