詳細(xì)介紹
TMS透過(guò)率測(cè)量?jī)x(ir透過(guò)率測(cè)量?jī)x)
TMS是一套全波長(zhǎng)的透過(guò)率測(cè)量?jī)x(ir透過(guò)率測(cè)量?jī)x),能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類(lèi)平面、球面、非球面等光學(xué)元件的相/透射率,可用于實(shí)時(shí)顯示單、多點(diǎn)波長(zhǎng)透過(guò)率數(shù)據(jù)及波段平均透過(guò)率數(shù)據(jù)。適用于手機(jī)蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測(cè)。紫外透過(guò)率測(cè)量?jī)x專(zhuān)為檢測(cè)樣品紫外波段透過(guò)率設(shè)計(jì)。
紫外透過(guò)率測(cè)量?jī)x
顯微透過(guò)率測(cè)量?jī)x基于普通透過(guò)率測(cè)量?jī)x的測(cè)試原理,增加顯微光路和成像CCD對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行精確定位,用小尺寸光斑(0.3mm)測(cè)試樣品微小區(qū)域的相/透射率。除了可對(duì)玻璃、平行平板、太陽(yáng)膜、濾光片等平面光學(xué)元件的透過(guò)率檢測(cè)之外,特別適用于手機(jī)蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過(guò)率檢測(cè)。
TMS透過(guò)率測(cè)量?jī)x(ir透過(guò)率測(cè)量?jī)x)-技術(shù)參數(shù)
型號(hào) | TMS(I型) | TMS(Ⅱ型) | TMS(III型) |
探測(cè)器 | Sony線形CCD 陣列 | Hamamatsu背照2D-CCD | Hamamatsu背2D-CCD |
檢測(cè)范圍 | 380-1000nm (紫外:200-850nm) | 380-1100nm (紫外:200-1100nm) | 360-1100nm (紫外:225-1000nm) |
信噪比(全信號(hào)) | 250:1 | 450:1 | 1000:1 |
相對(duì)檢測(cè)誤差 | ﹤0.6%(410-900nm) | <0.4%(410-1000nm) | ﹤0.2%(410-1000nm) |
檢出限 | 0.1% | 0.05% | 0.01% |
單次測(cè)量時(shí)間 | ﹤1s | ||
CCD制冷 | 未制冷 | 未制冷 | -20℃ |
樣品尺寸 | ≥ Φ1.5mm (顯微:≥0.8nm) | ||
光斑 | 可調(diào),≥ Φ0.6mm(顯微≥ Φ0.3mm) | ||
操作系統(tǒng)/接口 | Windows XP, Windows | ||
電源/功率 | 220V-50HZ /6W |
TMS
透過(guò)率測(cè)量?jī)x-*的軟件設(shè)計(jì)l 智能化軟件操作:可自定義測(cè)量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長(zhǎng)位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。
l 譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測(cè)量結(jié)果,記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間,能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測(cè)量方案:用戶(hù)可以自行定義測(cè)量的方案,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確。
l 譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫(kù),可根據(jù)數(shù)據(jù)庫(kù)已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果,用戶(hù)可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。
l CIE顏色測(cè)量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù), x,y,L,a,b,飽和度,主波長(zhǎng)等。
l 數(shù)據(jù)報(bào)告打印功能:可快速批量打印樣品測(cè)量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測(cè)量報(bào)告出具單位名稱(chēng)。