詳細(xì)介紹
Monarc 陰極熒光系統(tǒng)性能優(yōu)點
快速獲取高質(zhì)量數(shù)據(jù)
• 以優(yōu)異的空間分辨率(<10 nm="" 1="" br="">(0.1 nm)采集 CL 數(shù)據(jù)
• 采集同時具有角度和波長分辨能力的 CL 數(shù)據(jù)
• 相較前代技術(shù),以高達(dá)30倍的更快速度采集超光譜
(hyperspectral)數(shù)據(jù)
操作簡便
• 通過全自動的光路對準(zhǔn)和基于配方驅(qū)動的操作,得到優(yōu)化的結(jié)果
• 恒常對準(zhǔn)的光路為短期與*工作帶來可重復(fù)的結(jié)果
• 大視野提高數(shù)據(jù)采集通量,并簡化用戶的工作流程
與其它信號的精確關(guān)聯(lián)
• 同時偵測多種信號,對物理性質(zhì)或成分信息與CL數(shù)據(jù)進(jìn)行關(guān)聯(lián)成像
• 不需折衷妥協(xié)——在進(jìn)行CL測量的同時,充分利用 SEM 的 in-lens探頭
1. 該幅偏振過濾的 CL 圖像證明了 Monarc 能夠提供空間分辨率優(yōu)于10 nm 的 CL 數(shù)據(jù)。圖像來自尺寸在 100 nm 左右的星狀金納米顆粒兩組正交線性偏振發(fā)光的顏色疊加。
Monarc 陰極熒光系統(tǒng)特色功能
• 角度分辨(angle-resolved CL,ARCL):在遠(yuǎn)低于光學(xué)衍射極限的尺度上理解光與物質(zhì)的交互作用——相較前代技術(shù),400x 更大視野,且不產(chǎn)生實際分辨率損失
• 波長-角度分辨(wavelength- and angle-resolved CL, WARCL):跨越多重觀察角度與波長,對光與物質(zhì)的交互作用進(jìn)行可視化——歸功于*的光路設(shè)計,以前無法做到或非常難以實現(xiàn)的表征手段,在 Monarc 上成為常規(guī)工作
• 偏振過濾:獲知例如光波段擔(dān)任納米天線、光子晶體等深度次波長結(jié)構(gòu)的發(fā)光偏振性能
應(yīng)用領(lǐng)域
• 光電材料研發(fā)
• LED 和激光失效分析
• 顯示與照明
• 光-物質(zhì)交互作用基礎(chǔ)研究
• 納米光子學(xué)
• 光子晶體
• 地質(zhì)科學(xué)-痕量元素分布
• 光伏材料表征
• 熒光技術(shù)
Monarc 配備兩種不同型號,滿足不同應(yīng)用需求:
Monarc
適合于地質(zhì)科學(xué)與面分布成像應(yīng)用,Monarc 型號擁有不受譜分辨率影響的更大視野,并通過其新穎的波長過濾譜成像能力,提供更高空間采樣的超光譜數(shù)據(jù)采集,性能大大超越基于前代技術(shù)的 SEM CL 探測器。
Monarc Pro
對于納米光子學(xué)與光電子材料應(yīng)用,Monarc Pro 更為適用,由于其提供了更高的靈敏度與譜分辨率;并具備*的波長-角度分辨分析能力以及偏振過濾選項。